Consultation NF EN IEC 61967-4

< Retour

Publication

Suivie par la Commission :	Dispositifs à semiconducteurs	Origine des travaux :	Internationale
		Motif :	Revision de norme

Résumé:
La présente partie de l'IEC 61967 spécifie une méthode de mesure de l'émission électromagnétique (EME) conduite des circuits intégrés par mesure directe des courants RF avec une sonde résistive de 1 ¿ et mesure des tensions RF en utilisant un réseau de couplage de 150 ¿. Ces méthodes assurent un degré élevé de reproductibilité, ainsi que la corrélation des résultats des mesures EME. Voir plus Voir moins

Informations complémentaires :
Les normes sont élaborées par des commissions de normalisation, gérées par AFNOR et les Bureaux de normalisation des professions, qui rassemblent des représentants de toutes les parties intéressées (producteurs, utilisateurs, pouvoirs publics, associations, centres techniques, ...). En vue d'améliorer la qualité de ces documents, un dispositif de retour d'expérience a été mis en place auprès des utilisateurs. L'information recueillie permettra en particulier d'apprécier la nécessité de modifier le document publié. Afin d'adapter au mieux son contenu à vos attentes, AFNOR vous invite à répondre à ce questionnaire.