Publication

Modèles de circuits intégrés pour la CEM - Partie 6 : modèles de circuits intégrés pour la simulation du comportement d'immunité aux impulsions - Modélisation de l'immunité aux impulsions conduite (ICIM-CPI)

NF EN IEC 62433-6

Suivie par la Commission :

Dispositifs à semiconducteurs

Origine des travaux :

Française

Motif :

Nouveau document

Résumé :

Le présent document a pour objet de décrire la méthode d''extraction d''un macromodèle d''immunité d''un circuit intégré aux décharges électrostatiques (DES) conduites selon la NF EN 61000-4-2 et aux transitoires électriques rapides (TER) selon la NF EN 61000-4-4. Le modèle couvre les dommages physiques dus à la surtension, les dommages thermiques et d''autres modes de défaillance. Les défaillances fonctionnelles peuvent également être traitées par ce modèle.

Informations complémentaires :

Les normes sont élaborées par des commissions de normalisation, gérées par AFNOR et les Bureaux de normalisation des professions, qui rassemblent des représentants de toutes les parties intéressées (producteurs, utilisateurs, pouvoirs publics, associations, centres techniques, ...).

En vue d'améliorer la qualité de ces documents, un dispositif de retour d'expérience a été mis en place auprès des utilisateurs. L'information recueillie permettra en particulier d'apprécier la nécessité de modifier le document publié.

Afin d'adapter au mieux son contenu à vos attentes, AFNOR vous invite à répondre à ce questionnaire.

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