Domaine d'application Le présent document traite d'une méthode de mesure de la permittivité complexe des substrats diélectriques aux hyperfréquences et aux fréquences à ondes millimétriques. Cette méthode a été élaborée pour évaluer les propriétés diélectriques des matériaux à faible perte utilisés dans les circuits et dispositifs hyperfréquences et à ondes millimétriques. Cette méthode utilise des modes d'ordre supérieur d'un résonateur à disque circulaire de type symétrique et permet d'effectuer, à l'aide d'un résonateur, des mesurages à large bande de substrats diélectriques, dont l'effet des trous d'excitation est pris en compte avec exactitude sur la base de l'analyse de couplage de mode. En comparaison avec la méthode conventionnelle décrite dans l'IEC 62810 et l'IEC 61338-1-3, cette méthode présente les caractéristiques suivantes: elle permet de mesurer avec exactitude et de manière non destructive les valeurs de la permittivité relative e r' et de la tangente de l'angle de pertes tand perpendiculaire aux échantillons de plaques diélectriques; elle permet des mesurages à large bande à l'aide de modes d'ordre supérieur d'un résonateur; elle est applicable pour effectuer des mesurages dans les conditions suivantes: - fréquence: 10 GHz = f = 110 GHz; - permittivité relative: 1 = e r' = 10; - tangente de l'angle de pertes: 10-4 = tand = 10-2.

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