Le présent document traite d'une méthode de mesure de la permittivité complexe des substrats diélectriques aux fréquences micro-ondes et millimétriques. Cette méthode a été élaborée pour évaluer les propriétés diélectriques des matériaux à faible perte utilisés dans les circuits et dispositifs aux fréquences micro-ondes et millimétriques. Cette méthode utilise les modes d'ordre supérieur d'un résonateur symétrique à disque circulaire, et permet d'effectuer le mesurage large bande de substrats diélectriques à l'aide d'un résonateur qui, sous l'effet des ports d'excitation, produit un champ de franges qui sont prises en compte précisément par un ajustement d'analyse modale.En comparaison avec la méthode conventionnelle décrite dans l'IEC 62810 et l'IEC 61338-1-3, cette méthode présente les caractéristiques suivantes:elle permet de mesurer avec exactitude et de manière non destructive les valeurs de la permittivité relative, er', et de la tangente de l'angle de pertes, tand , perpendiculaire aux échantillons de plaques diélectriques;elle permet des mesurages à large bande à l'aide de modes d'ordre supérieur d'un résonateur;elle est applicable pour effectuer des mesurages dans les conditions suivantes:-fréquence:10 GHz = f = 170 GHz;-permittivité relative:1 = er' = 10;-tangente de l'angle de pertes:10-4 = tan d = 10-2.

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