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Analyse chimique des surfaces - Spectrométrie de masse des ions secondaires - Dosage des atomes de bore dans le silicium à l'aide de matériaux dopés uniformément
NF ISO 14237
| Suivie par la Commission : | Analyse chimique des surfaces et analyse des surfaces par micro-faisceaux | Origine des travaux : | Française |
| Motif : | Nouveau document | ||
Résumé : |
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Le présent document spécifie une méthode de spectrométrie de masse des ions secondaires pour la détermination de la concentration atomique de bore dans le silicium monocristallin au moyen de matériaux dopés uniformément étalonnés par un matériau de référence certifié à bore implanté. Cette méthode est applicable au bore dopé uniformément dans la gamme de concentrations de 1 x 10 exposant 16 atomes/cm3 à 1 x 10 exposant 20 atomes/cm3. |
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Informations complémentaires : |
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