Consultation NF ISO 17328

Publication

Suivie par la Commission :	Optique et photonique	Origine des travaux :	Française
		Motif :	Révision de document

Résumé:
Le présent document décrit la technique de la méthode du minimum de déviation pour le mesurage de l''indice de réfraction relatif dans l''air, des matériaux optiques infrarouges allant de 0,78 µm à 25 µm. Cette méthode est également utilisée dans le domaine spectral visible. Le présent document spécifie le principe, l''appareillage, le mode opératoire et le rapport d''essai de la méthode de mesure. Il décrit aussi la forme et les dimensions du prisme d''échantillon pour effectuer le mesurage de l''indice de réfraction. Les méthodes de mesure de l''indice de réfraction des matériaux biréfringents et de l''indice de réfraction complexe ne sont pas traitées. Voir plus Voir moins

Informations complémentaires :
Les normes sont élaborées par des commissions de normalisation, gérées par AFNOR et les Bureaux de normalisation des professions, qui rassemblent des représentants de toutes les parties intéressées (producteurs, utilisateurs, pouvoirs publics, associations, centres techniques, ...). En vue d'améliorer la qualité de ces documents, un dispositif de retour d'expérience a été mis en place auprès des utilisateurs. L'information recueillie permettra en particulier d'apprécier la nécessité de modifier le document publié. Afin d'adapter au mieux son contenu à vos attentes, AFNOR vous invite à répondre à ce questionnaire.