Isolation thermique - Détermination de la résistance thermique et de la conductivité thermique en régime stationnaire - Méthode fluxmétrique

<H1>1 Objet et domaine d'application 4</H1> <H2>1.1 Objet 4</H2> <H2>1.2 Domaine d'application 4</H2> <H1>2 Références normatives 5</H1> <H1>3 Symboles et unités 5</H1> <H1>4 Principe 6</H1> <H1>5 Appareillage 6</H1> <H2>5.1 Généralités 6</H2> <H2>5.2 Disposition de l'empilage de mesure 7</H2> <H2>5.3 La plaque chaude et la plaque froide 7</H2> <H2>5.4 Le fluxmètre 7</H2> <H2>5.5 Émissivité des surfaces en contact avec les éprouvettes 8</H2> <H2>5.6 Uniformité des températures 8</H2> <H2>5.7 Stabilité des températures 8</H2> <H2>5.8 Mesure des températures 8</H2> <H2>5.9 Mesure des flux thermiques 8</H2> <H2>5.10 Mesure de l'écartement entre les surfaces au contact des éprouvettes 9</H2> <H2>5.11 Positionnement de l'ensemble d'essai 9</H2> <H2>5.12 Protection contre les perturbations dues à l'environnement 9</H2> <H1>6 Étalonnage 9</H1> <H2>6.1 Températures 9</H2> <H2>6.2 Flux thermiques 9</H2> <H2>6.3 Épaisseurs 10</H2> <H2>6.4 Vérifications complémentaires 10</H2> <H2>6.5 Vérifications ultérieures après étalonnage 10</H2> <H2>6.6 Étalonnage simplifié 10</H2> <H1>7 Éprouvettes de mesure 10</H1> <H2>7.1 Procédure d'échantillonnage 10</H2> <H2>7.2 Préparation des éprouvettes 10</H2> <H2>7.3 Conditionnement des éprouvettes 11</H2> <H1>8 Mesurages 12</H1> <H2>8.1 Mesures d'identification 12</H2> <H2>8.2 Mise en place des éprouvettes 12</H2> <H2>8.3 Réglage des températures de mesure 12</H2> <H2>8.4 Conditions d'environnement 12</H2> <H2>8.5 Mesures 12</H2> <H2>8.6 Établissement du régime permanent 13</H2> <H1>9 Expression des résultats 13</H1> <H1>10 Procès-verbal d'essai 13</H1>

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