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Enquête Publique – Norme volontaire

Date de clôture : 11/11/2024

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 24: Résistance à l'humidité accélérée - HAST sans polarisation

PR NF EN IEC 60749-24

Suivie par la Commission : Dispositifs à semiconducteurs Origine des travaux : Internationale
    Motif : Revision de norme

Résumé:

Le présent document cite l’essai fortement accéléré de contrainte d’humidité (HAST, Highly Accelerated Stress Testing) sans polarisation est réalisé dans le but d’évaluer la fiabilité des dispositifs à l’état solide sous boîtiers non hermétiques dans des environnements humides. Il s’agit d’un essai fortement accéléré qui utilise une température et une humidité dans des conditions sans condensation, pour accélérer la pénétration d’humidité à travers le matériau de protection extérieur (agent d’enrobage ou de scellement) ou par l’interface entre le matériau de protection extérieur et les conducteurs métalliques qui le traversent. La polarisation n’est pas appliquée dans cet essai pour s’assurer que les mécanismes de défaillance potentiellement éclipsés par la polarisation puissent être découverts (la corrosion galvanique, par exemple). Cet essai destructif est utilisé pour identifier les mécanismes de défaillance internes au boîtier.

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Informations complémentaires :
  • L'enquête publique est soumise sur les versions française et anglaise.

  • Remplace la norme homologuée NF EN 60749-24, de décembre 2005.

  • Si une réunion de dépouillement s'avère nécessaire, celle-ci sera confirmée ultérieurement par une invitation.

  • Les destinataires du présent projet sont invités à soumettre, avec leurs observations, une notification des droits de propriété intellectuelle ou industrielle dont ils ont connaissance et à fournir une documentation justificative.