Suivie par la Commission : | Dispositifs à semiconducteurs | Origine des travaux : | Internationale |
Motif : | Revision de norme | ||
Résumé: | |||
Le présent document cite l’essai fortement accéléré de contrainte d’humidité (HAST, Highly Accelerated Stress Testing) sans polarisation est réalisé dans le but d’évaluer la fiabilité des dispositifs à l’état solide sous boîtiers non hermétiques dans des environnements humides. Il s’agit d’un essai fortement accéléré qui utilise une température et une humidité dans des conditions sans condensation, pour accélérer la pénétration d’humidité à travers le matériau de protection extérieur (agent d’enrobage ou de scellement) ou par l’interface entre le matériau de protection extérieur et les conducteurs métalliques qui le traversent. La polarisation n’est pas appliquée dans cet essai pour s’assurer que les mécanismes de défaillance potentiellement éclipsés par la polarisation puissent être découverts (la corrosion galvanique, par exemple). Cet essai destructif est utilisé pour identifier les mécanismes de défaillance internes au boîtier. Voir plus Voir moins |
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Informations complémentaires : | |||
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