Le présent document spécifie les essais et les mesures de la teneur en vapeur d’eau et en autres gaz de l’atmosphère à l’intérieur d’un dispositif métallique ou céramique scellé hermétiquement. L’essai vise à mesurer la qualité du procédé de scellement et à donner des informations relatives à la stabilité chimique à long terme de l’atmosphère à l’intérieur du boîtier. Il est applicable à tous les dispositifs à semiconducteurs scellés de cette manière, mais généralement réservés pour les applications à haute fiabilité comme dans les domaines militaire et spatial.

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