Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 8 : Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de la ligne TEM à plaques pour circuit intégré

NF EN IEC 62132-8

Suivie par la Commission :

Dispositifs à semiconducteurs

Origine des travaux :

Française

Motif :

Info non disponible

Résumé :

Le présent document définit une méthode de mesure de l’immunité d’un circuit intégré (CI) aux perturbations électromagnétiques rayonnées au moyen d’une ligne TEM à plaques pour circuit intégré.

Informations complémentaires :

Les destinataires du présent projet sont invités à soumettre, avec leurs observations, une notification des droits de propriété intellectuelle ou industrielle dont ils ont connaissance et à fournir une documentation justificative.
Si une réunion de dépouillement s'avère nécessaire, celle-ci sera confirmée ultérieurement par une invitation.
La présente partie de l’IEC 62132 définit une méthode de mesure de l’immunité d’un circuit intégré (CI) aux perturbations électromagnétiques rayonnées au moyen d’une ligne TEM à plaques pour circuit intégré.
C96-261-8
L'enquête publique est soumise sur les versions française et anglaise.