| Suivie par la Commission : | Mesure et commande dans le processus industriel | Origine des travaux : | Internationale |
| Motif : | Revision de norme | ||
| Résumé: | |||
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La présente partie de l’IEC 62453 spécifie un modèle d’information de l’OPC UA pour représenter les informations des dispositifs, basé sur l’intégration du dispositif définie pour un outil FDT. Voir plus Voir moins |
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| Informations complémentaires : | |||
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