Norm'Info - Consultation PR NF EN IEC 63287-3

Enquête Publique – Norme volontaire

Date de clôture : 30/12/2024

Dispositifs à semiconducteurs - Lignes directrices génériques concernant la qualification des semiconducteurs - Partie 3 : Lignes directrices pour les plans de qualification de la fiabilité des modules à semiconducteurs de puissance

PR NF EN IEC 63287-3

Suivie par la Commission :

Dispositifs à semiconducteurs

Origine des travaux :

Française

Motif :

Info non disponible

Résumé:

Le présent document fournit des lignes directrices pour un plan de qualification de la fiabilité des modules à semiconducteurs de puissance, visant à définir des objectifs de fiabilité sur toute la durée de vie du produit.

Informations complémentaires :

L'enquête publique est soumise sur les versions française et anglaise.
Si une réunion de dépouillement s'avère nécessaire, celle-ci sera confirmée ultérieurement par une invitation.
Les destinataires du présent projet sont invités à soumettre, avec leurs observations, une notification des droits de propriété intellectuelle ou industrielle dont ils ont connaissance et à fournir une documentation justificative.