NormInfo

tutoriels

Enquête Publique – Norme volontaire

Date de clôture : 04/03/2022

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs à semiconducteurs pour système IDO - Partie 1 : méthode d’essai de détection de variation acoustique

NF EN IEC 63364-1

Suivie par la Commission : Dispositifs à semiconducteurs Origine des travaux : Internationale
    Motif : Revision de norme

Résumé:

Le présent document fournit les termes, la méthode d’essai et le rapport du système de détection de variation acoustique basé sur l’IoT. Elle fournit la méthode d’évaluation pour chaque partie du système de détection de variation acoustique basé sur l’IoT dans le schéma de principe, les paramètres de caractérisation, les symboles, les montages d’essai et les conditions. En outre, le présent document définit les éléments de configuration et les critères de l’espace normalisé et de la situation d’application de flamme pour la mesure de l’évaluation de la qualité du système de détection de variation de champ acoustique avec IoT.

Voir plus Voir moins

Informations complémentaires :
  • Les destinataires du présent projet sont invités à soumettre, avec leurs observations, une notification des droits de propriété intellectuelle ou industrielle dont ils ont connaissance et à fournir une documentation justificative.

  • Si une réunion de dépouillement s'avère nécessaire, celle-ci sera confirmée ultérieurement par une invitation.

  • C96-364-1

  • L'enquête publique est soumise sur la version française et anglaise.