| Suivie par la Commission : | Dispositifs à semiconducteurs | Origine des travaux : | Internationale |
| Motif : | Revision de norme | ||
| Résumé: | |||
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Le présent document spécifie les méthodes d’essai permettant d’évaluer les caractéristiques de base des dispositifs neuromorphiques à memristance. Les méthodes d’essai du présent document englobent l’initialisation, la lecture, le forming, la potentialisation et la dépression synaptique. Le présent document s’applique aux dispositifs neuromorphiques à memristance à 2 bornes, sans limitation quelconque relative à la technologie des dispositifs et à leurs dimensions. Voir plus Voir moins |
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| Informations complémentaires : | |||
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