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Enquête Publique – Norme volontaire

Date de clôture : 10/11/2025

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs neuromorphiques - Partie 4 : Méthode d’évaluation de l’asymétrie des dispositifs à memristance

PR NF EN IEC 63550-4

Suivie par la Commission : Dispositifs à semiconducteurs Origine des travaux : Internationale
    Motif : Revision de norme

Résumé:

Le présent document porte sur l’évaluation des caractéristiques d’asymétrie qui jouent un rôle essentiel dans le traitement par les memristances des comportements de commutation déséquilibrés lors d’opérations neuromorphiques, exigeant des méthodes de ractérisation distinctes, au-delà des évaluations de linéarité. Les méthodes d’essai de l’asymétrie données dans le présent document portent sur l’asymétrie, la variation de cycle à cycle (𝜎c2c 120 ) et la variance de l’asymétrie entre dispositifs (𝜎d2d). Le présent document s’applique à tous les dispositifs neuromorphiques à deux bornes, indépendamment du mécanisme sous-jacent.

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Informations complémentaires :
  • Les destinataires du présent projet sont invités à soumettre leurs observations et à notifier, avec la documentation justificative, tout éventuel droit de propriété intellectuelle (notamment droit d’auteur) ou de propriété industrielle (notamment brevet) susceptible d’être en lien direct ou indirect avec le projet ou d’être inclus ou référencé dans la norme en cours d’élaboration.

  • L'enquête publique est soumise sur la version française uniquement.

  • Si une réunion de dépouillement s'avère nécessaire, celle-ci sera confirmée ultérieurement par une invitation.

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