Les destinataires du présent projet sont invités à soumettre, avec leurs observations, une notification des droits de propriété intellectuelle ou industrielle dont ils ont connaissance et à fournir une documentation justificative.

Le présent document spécifie l'étalonnage et l’ajustage des caractéristiques métrologiques des instruments à contact (palpeur) pour le mesurage de l'état de surface par la méthode du profil comme défini dans l'ISO 25178-601. L'étalonnage et l'ajustage sont destinés à être effectués à l'aide d'étalons de mesure.

L'Annexe B spécifie l'étalonnage et l'ajustage des caractéristiques métrologiques des instruments à contact (palpeur) à utilisation simplifiée qui ne sont pas conformes à l'ISO 25178-601.

Remplace la norme NF EN ISO 12179, de janvier 2022.

Par rapport au document remplacé, les principales modifications portent sur:

- l'ajout de la définition 3.8 sur le profil résiduel;

- la mise à jour du 8.2 présentant le calcul de l'incertitude sur les valeurs mesurées pendant l'étalonnage d'un instrument de mesure utilisant un étalon et la mise à jour de l'Annexe C donnat un exemple de calcul.

L'enquête publique est soumise sur les versions française et anglaise.

Si une réunion de dépouillement s'avère nécessaire, celle-ci sera confirmée ultérieurement par une invitation.