Nanotechnologies - Essais de rayure aux échelles nano- et micro métriques

XP CEN/TS 17629

Suivie par la Commission :

Nanotechnologies

Origine des travaux :

Française

Motif :

Nouveau document

Résumé :

Le présent document spécifie une méthode permettant de mesurer la résistance à la rayure et le comportement à la rupture des matériaux avancés et des revêtements, au moyen d'expériences de rayure aux échelles nano- et micro-métriques. La méthode fournit des données portant à la fois sur les dommages physiques occasionnés aux éprouvettes et sur le frottement généré entre la sonde et l'éprouvette en une seule ou plusieurs passes. Les forces à appliquer pour ces essais sont comprises entre 1 micron N et 2 N. La méthode d'essai n'est pas applicable aux revêtements tels que définis dans l'EN ISO 4618 [18].