La présente partie de l'IEC 60749 établit la procédure d'essai, d'évaluation et de classification des dispositifs et des microcircuits selon leur susceptibilité (sensibilité) au dommage ou leur dégradation par suite de leur exposition à une décharge électrostatique (DES) sur un modèle défini de dispositif chargé (CDM) induit par champ. Tous les dispositifs à semiconducteurs, circuits à couches minces, dispositifs à ondes acoustiques de surface (OAS) , dispositifs optoélectroniques, circuits intégrés hybrides (HIC - hybrid integrated circuits) et modules multipuces (MCM - multi-chip modules) en boîtiers qui contiennent l'un de ces dispositifs doivent être évalués selon le présent document. Pour effectuer les essais, les dispositifs sont assemblés dans un boîtier similaire à celui prévu dans l'application finale. Le présent document CDM ne s'applique pas aux appareils d'essai de modèles de décharge avec support. Il décrit en revanche la méthode induite par champ (FI - field-induced). Une méthode alternative, la méthode par contact direct (DC - direct contact) , est décrite à l'Annexe J. L'objet du présent document est d'établir une méthode d'essai qui reproduit les défaillances du CDM et de fournir des résultats d'essais de DES de CDM fiables et reproductibles d'un appareil d'essai à un autre, indépendamment du type de dispositif. Des données reproductibles permettent des classifications et des comparaisons exactes des niveaux de sensibilité de DES de CDM.