NormInfo

tutoriels
FILTRES :
Tri :

Normes en enquête publique

Norme en enquête publique

Le stade enquête publique s'étend du lancement de l'enquête elle-même jusqu'à la publication du document. L'enquête publique est une consultation ouverte à toute partie intéressée qui souhaite donner son avis sur le projet de norme et transmettre des propositions d’amélioration. Elle permet de recueillir les avis des futurs utilisateurs et à vérifier que le projet de norme ne soulève aucune objection de nature à en empêcher l'adoption. L'enquête publique est une étape obligatoire pour les projets de norme français, européens et internationaux destinés à être publié au statut de norme homologuée par AFNOR.
Titre Référence Filière Clôture Avis Suivi
Dispositifs à semiconducteurs - Lignes directrices concernant les plans de qualification de la fiabilité - Partie 4 : évaluation des défaillances précoces PR NF EN IEC 63287-4 Internationale 04/08/2025
Normalisation thermique des boîtiers de semiconducteurs - Partie 6 : Modèle de résistance thermique et de capacité pour la prédiction de la température transitoire aux points de jonction et de mesure PR NF EN IEC 63378-6 Internationale 28/07/2025 Clos
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 8: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de la ligne TEM à plaques pour circuit intégré PR NF EN IEC 62132-8 Internationale 12/05/2025 Clos
Circuits intégrés - Évaluation de la CEM des émetteurs-récepteurs - Partie 7 : Émetteurs-récepteurs CXPI PR NF EN IEC 62228-7 Internationale 14/04/2025 Clos
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 26 : Essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle du corps humain (HBM) PR NF EN IEC 60749-26 Internationale 03/02/2025 Clos
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 23 : durée de vie en fonctionnement à haute température PR NF EN IEC 60749-23 Européenne 27/01/2025 Clos
Dispositifs à semiconducteurs - Lignes directrices génériques concernant la qualification des semiconducteurs - Partie 3 : Lignes directrices pour les plans de qualification de la fiabilité des modules à semiconducteurs de puissance PR NF EN IEC 63287-3 Internationale 30/12/2024 Clos
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 7: Mesure de la teneur en humidité interne et analyse des autres gaz résiduels PR NF EN IEC 60749-7 Internationale 11/11/2024 Clos
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 24: Résistance à l'humidité accélérée - HAST sans polarisation PR NF EN IEC 60749-24 Internationale 11/11/2024 Clos
Dispositifs à semiconducteur - Méthodes d'essai mécaniques et climatiques - Partie 21: Brasabilité PR NF EN IEC 60749-21 Internationale 11/11/2024 Clos
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d’essais mécaniques et climatiques - Partie 34-1 : essai de cycles en puissance pour modules de puissance à semiconducteurs PR NF EN IEC 60749-34-1 Internationale 26/02/2024 Clos
Dispositifs à semi-conducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 20-1: Manipulation, emballage, étiquetage et transport des composants pour montage en surface sensibles à l'effet combiné de l'humidité et de la chaleur de brasage PR NF EN IEC 60749-20-1 Européenne 27/11/2023 Clos
Dispositifs à semiconducteurs – méthode d’essai de fiabilité par la commutation sur charge inductive pour les transistors au nitrure de gallium PR NF EN IEC 63284 Internationale 31/03/2022 Clos
Lignes directrices relatives aux procédures d’évaluation de la fiabilité de commutation pour convertisseurs de puissance en nitrure de gallium PR NF EN IEC 63419 Internationale 11/03/2022 Clos
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 35 : méthode d'essai des caractéristiques électriques sous déformation par courbure de dispositifs électromécaniques flexibles et pliables NF EN 62047-35 Européenne 08/03/2019 Clos
loader