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Normes en conception

Norme en conception

Les normes sont élaborées par des commissions de normalisation, gérées par AFNOR et les Bureaux de normalisation sectoriels, qui rassemblent des représentants de toutes les parties intéressées (producteurs, utilisateurs, pouvoirs publics, associations, centres techniques, …).
Titre Référence Filière Inscription Avis Suivi
EN 5XXXX Cyber-résilience des plates-formes certifiées EUCC de cartes à puce et de dispositifs similaires incluant des éléments sécurisés prEN 50764 Européenne 02/02/2025
EN 5XXXX Exigences de cybersécurité pour les microprocesseurs et microcontrolleurs avec fonctions liées à la sécurité prEN 50765 Européenne 23/01/2025
EN 5XXXX Exigences de cybersécurité pour les microprocesseurs et microcontrôleurs résistants aux intrusions prEN 50766 Européenne 03/01/2025
Semiconductor devices - Part 14-11: Semiconductor sensors - Test method of surface acoustic wave based integrated sensor for measuring ultra violet, illumination and temperature PR NF IEC 60747-14-11 Ed.1.0 Internationale 04/08/2019
Semiconductor devices - Part 9: Discrete devices - Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs) PR NF IEC 60747-9 Ed.3.0 Internationale 20/05/2019
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs à semiconducteurs pour récupération et production d'énergie - Partie 5 : Méthode d’essai pour la mesure de la puissance générée par des dispositifs thermoélectriques souples IEC 62830-5 Ed.1.0 Internationale 12/02/2019
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs à semiconducteurs souples et extensibles - Partie 2 : Méthode d’évaluation pour la mobilité des électrons, la pente en régime de sous-seuil et la tension de seuil des dispositifs souples IEC 62951-2 Ed.1.0 Internationale 19/11/2018
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs à semiconducteurs souples et extensibles - Partie 5 : Méthode d’essai pour les caractéristiques thermiques des matériaux souples IEC 62951-5 Ed.1.0 Internationale 04/11/2018
Semiconductor devices - Semiconductor devices for energy harvesting and generation - Part 4: Test and evaluation methods for flexible piezoelectric energy harvesting devices PR NF IEC 62830-4 Ed.1.0 Internationale 22/08/2018
Dispositifs à semiconducteurs — Dispositifs à semiconducteurs souples et extensibles - Partie 7: Méthode d’essai pour caractériser la performance des barrières en couches minces utilisées pour l’encapsulation des semiconducteurs organiques souples IEC 62951-7 Ed.1.0 Internationale 05/11/2017
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 32: Méthode d’essai pour la vibration non linéaire des résonateurs MEMS IEC 62047-32 Ed.1.0 Internationale 26/08/2016
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 30: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of MEMS piezoelectric thin film IEC 62047-30 Ed.1.0 Internationale 26/06/2015
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 29: Electromechanical relaxation test method for freestanding conductive thin-films under room temperature IEC 62047-29 Ed.1.0 Internationale 05/06/2015
Dispositifs à semiconducteurs – Dispositifs à semiconducteurs souples et extensibles – Partie 6: Méthode d’essai pour la résistance de couche des couches conductrices souples IEC 62951-6 Ed.1.0 Internationale 08/05/2015
Dispositifs à semiconducteurs — Dispositifs à semiconducteurs souples et extensibles — Partie 4: Evaluation de la fatigue pour les couches minces conductrices souples sur les substrats pour dispositifs à semiconducteurs souples IEC 62951-4 Ed.1.0 Internationale 08/05/2015
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs discrets - Partie 4: Diodes et transistors hyperfréquences IEC 60747-4 Amd.1 Ed.2.0 Internationale 24/07/2014
Amendment 20 - Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 2: Dimensions IEC 60191-2 Amd.20 Ed.1.0 Internationale 05/09/2013
Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 3: Evaluation of thin film transistor characteristics on flexible substrates under bulging IEC 62951-3 Ed.1.0 Internationale
Dispositifs à semiconducteurs - Partie 2: Dispositifs discrets - Diodes de redressement IEC 60747-2 ED4 Internationale
Dispositifs à semiconducteurs - Partie 6: Dispositifs discrets - Thyristors IEC 60747-6 ED4 Internationale
Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 9: Performance testing methods of one transistor and one resistor (1T1R) resistive memory cells IEC 62951-9 ED1 Internationale
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs discrets - Partie 7: Transistors bipolaires IEC 60747-7 Amd.1 Ed.3.0 Internationale
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs discrets - Partie 7: Transistors bipolaires IEC 60747-7 Amd.1 Ed.3.0 Internationale
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 33: MEMS piezoresistive pressure-sensitive device IEC 62047-33 Ed.1.0 Internationale
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 31: Four-point bending test method for interfacial adhesion energy of layered MEMS materials IEC 62047-31 Ed.1.0 Internationale
Semiconductor devices – Part 5-12: Optoelectronic devices – Light emitting diodes – Test method of LED efficiencies IEC/TR 60747-5-12 Ed.1.0 Internationale
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 3: Test method for defects using photoluminescence PR NF IEC 63068-3 Ed.1.0 Internationale
Test method for continuous-switching evaluation of gallium nitride power conversion devices IEC 63512 ED1 Internationale
Semiconductor Devices - Micro-electromechanical Devices - Part 52: Biaxial tensile testing method for stretchable MEMS IEC 62047-52 ED1 Internationale
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 1: Conditions générales et définitions IEC 62132-1 ED3 Internationale
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