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Dispositifs à semiconducteurs
AFNOR/UF 47
- Domaine : SEMI-CONDUCTEURS - FIBRES OPTIQUES
- Secteur d'activité : Electrotechnologies
- Filière : Française
- Les dispositifs semi-conducteurs discrets, les circuits intégrés, les capteurs, l’assemblage de composants électroniques, les exigences d'interface, et les dispositifs micro-électro-mécaniques (MEMS).Modélisation des émissions rayonnées de composants électroniques pour des applications CEM, méthodes d’essai spécifiques des différents dispositifs, ainsi que les méthodes de mesure, les exigences d'interface et la prise en compte de la CEM lors des phases de conception.Public, militaire, industriel, aéronautique spatiale.Sont exclus de ce domaine d’activité : les circuits intégrés passifs, les systèmes de conversion photovoltaïque de l’énergie, les sous-systèmes (fibres, câbles et composants à fibre optique).
- Président : CHEENNE Géraud (STMICROELECTRONICS (GRENOBLE 2) SAS)
- Secrétaire : THOORES Noemie (AFNOR)
Cette structure ne dispose pas de groupe de travail
Liste des structures européennes et internationales suivies par la Commission de normalisation
| IEC/TC 47/SC 47D | BOîTIERS DES DISPOSITIFS SEMI-CONDUCTEURS |
| IEC/TC 47/SC 47E | DISPOSITIFS DISCRETS Ã SEMICONDUCTEURS |
| IEC/TC 47/SC 47F | SYSTèMES MICROéLECTROMéCANIQUES |
| IEC/TC 47/SC 47E/WG 4 | OPTOCOUPLEURS, PHOTOCOUPLEURS ET OPTORELAIS à éTAT SOLIDE |
| IEC/TC 47/SC 47E/WG 1 | CAPTEURS Ã SEMICONDUCTEURS |
| IEC/TC 47/SC 47F/WG 2 | CHARACTERIZATIONS AND TESTING METHODS OF MATERIALS AND STRUCTURES FOR MICROELECTROMECHANICAL SYSTEMS |
| IEC/TC 47/WG 2 | SEMICONDUCTOR DEVICE TEST METHODS AND GUIDELINES - MECHANICAL, CLIMATIC AND STORAGE |
| IEC/TC 47/WG 6 | INCUBATING WORKING GROUP |
| IEC/TC 47/SC 47F/WG 3 | MICRO-ELECTROMECHANICAL DEVICES AND PACKAGING |
| IEC/TC 47/SC 47E/WG 2 | MICROWAVE DEVICES |
| IEC/TC 47/SC 47D/WG 1 | PACKAGE OUTLINES |
| IEC/TC 47/SC 47E/WG 3 | POWER DEVICES |
| IEC/TC 47/WG 7 | SEMICONDUCTOR DEVICES FOR ENERGY CONVERSION AND TRANSFER |
| IEC/TC 47/SC 47F/WG 1 | TERMINOLOGIES AND GENERIC SPECIFICATION FOR MICRO-ELECTROMECHANICAL SYSTEMS |
| IEC/TC 47/WG 1 | TERMINOLOGY |
| IEC/TC 47/SC 47D/WG 2 | TERMS, DEFINITIONS, MEASURING METHODS AND RELATED REQUIREMENT FOR SEMICONDUCTOR DEVICES PACKAGING |
| IEC/TC 47/WG 5 | WAFER LEVEL RELIABILITY FOR SEMICONDUCTOR DEVICES |
| IEC/TC 47/SC 47F/MT 1 | MAINTENANCE TEAM FOR THE PUBLISHED ISS UNDER SC 47F/ WG 2 |
| IEC/TC 47/SC 47E/PT 60747-14-11 | SEMICONDUCTOR DEVICES Â PART 14-11: SEMICONDUCTOR SENSORS Â TEST METHOD OF SURFACE ACOUSTIC WAVE BASED INTEGRATED SENSOR FOR MEASURING ULTRA VIOLET, ILLUMINATION AND TEMPERATURE |
| IEC/TC 47 | DISPOSITIFS Ã SEMICONDUCTEURS |
| IEC/TC 47/PT 63492 | SEMICONDUCTOR DEVICES - ISOLATION FOR SEMICONDUCTOR DEVICES - PART 1: FAILURE MECHANISMS AND MEASUREMENT METHODS TO EVALUATE SOLID INSULATION FOR SEMICONDUCTOR DEVICES |
| CLC/TC 47X | SEMICONDUCTORS AND TRUSTED CHIPS IMPLEMENTATION |
Fabricant ou prestataire
| Expert | Organisme d'appartenance | Organisme représenté |
|---|---|---|
| M. NEVE DE MEVERGNIES | ALTERA SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY FRANCE SAS | ALTERA SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY FRANCE SAS |
| M. SITBON | GE GRID SOLUTIONS | GIMELEC |
| MME. CHETALI | HUAWEI TECHNOLOGIES FRANCE | HUAWEI TECHNOLOGIES FRANCE |
| M. DANNO | HUAWEI TECHNOLOGIES FRANCE | HUAWEI TECHNOLOGIES FRANCE |
| MME. ENGELS | IC'ALPS | IC'ALPS |
| MME. PAVLOVA | INFINEON TECHNOLOGIES FRANCE | INFINEON TECHNOLOGIES FRANCE |
| M. CHERGUI | INTERNET OF TRUST | INTERNET OF TRUST |
| MME. LAVATELLI | INTERNET OF TRUST | INTERNET OF TRUST |
| M. DUPRET | MENTA | MENTA |
| M. BRANGIER | MICROCHIP TECHNOLOGY ROUSSET | MICROCHIP TECHNOLOGY ROUSSET |
| M. DEMOULIN | MICROCHIP TECHNOLOGY ROUSSET | MICROCHIP TECHNOLOGY ROUSSET |
| M. ZETTEL | MICROCHIP TECHNOLOGY ROUSSET | MICROCHIP TECHNOLOGY ROUSSET |
| M. DOUGUET | MICROSHIP POWER MODULES | MICROSHIP POWER MODULES |
| M. ABOUDA | NXP SEMICONDUCTORS FRANCE | NXP SEMICONDUCTORS FRANCE SAS |
| MME. ATALLAH | NXP SEMICONDUCTORS FRANCE | NXP SEMICONDUCTORS FRANCE SAS |
| M. GUILLEY | SECURE-IC SAS | SECURE-IC SAS |
| M. SHRIVASTWA | SECURE-IC SAS RPP 13450677 | SECURE-IC SAS |
| M. CHEENNE | STMICROELECTRONICS (GRENOBLE 2) SAS | STMICROELECTRONICS (GRENOBLE 2) SAS |
| MME. COMPANS | STMICROELECTRONICS ROUSSET SAS | STMICROELECTRONICS (GRENOBLE 2) SAS |
| M. COURCAMBECK | STMICROELECTRONICS ROUSSET SAS | STMICROELECTRONICS (GRENOBLE 2) SAS |
| M. DI RUSSO | ST MICROELECTRONICS | STMICROELECTRONICS (GRENOBLE 2) SAS |
| M. FEIX | ST MICROELECTRONICS | STMICROELECTRONICS (GRENOBLE 2) SAS |
| M. MAS | STMICROELECTRONICS (GRENOBLE 2) SAS | STMICROELECTRONICS (GRENOBLE 2) SAS |
| M. AUSSEL | THALES DIS FRANCE SA - RPP 30029968 | THALES DIS FRANCE SAS |
| MME. MORIN | THALES DIS FRANCE SA - RPP 30029968 | THALES DIS FRANCE SAS |
Intermédiaire
| Expert | Organisme d'appartenance | Organisme représenté |
|---|---|---|
| M. JOUANOLLE | A2IND - AGENCE APPUI INTEROP NORMA DEFENSE | A2IND - AGENCE APPUI INTEROP NORMA DEFENSE |
Utilisateur ou destinataire
| Expert | Organisme d'appartenance | Organisme représenté |
|---|---|---|
| M. DIVITO | ANALOG DEVICES SAS | ANALOG DEVICES SAS |
| M. TREMLET | ANALOG DEVICES SAS | ANALOG DEVICES SAS |
| M. GUILLOY | EDF | EDF |
Autorité réglementaire
| Expert | Organisme d'appartenance | Organisme représenté |
|---|---|---|
| M. GIMENEZ | ANSSI - AGENCE NAT SECURITE SYSTEMES INFO | ANSSI - AGENCE NAT SECURITE SYSTEMES INFO |
| MME. RIDEAU | ANSSI - AGENCE NAT SECURITE SYSTEMES INFO | ANSSI - AGENCE NAT SECURITE SYSTEMES INFO |
Support technique
| Expert | Organisme d'appartenance | Organisme représenté |
|---|---|---|
| M. WYON | CEA | CEA |
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