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Activité
Les dispositifs semi-conducteurs discrets, les circuits intégrés, les capteurs, l’assemblage de composants électroniques, les exigences d'interface, et les dispositifs micro-électro-mécaniques (MEMS).
Secteur d’application
Public, militaire, industriel, aéronautique spatiale.
Aspects couverts
Modélisation des émissions rayonnées de composants électroniques pour des applications CEM, méthodes d’essai spécifiques des différents dispositifs, ainsi que les méthodes de mesure, les exigences d'interface et la prise en compte de la CEM lors des phases de conception.
Sont exclus de ce domaine d’activité : les circuits intégrés passifs, les systèmes de conversion photovoltaïque de l’énergie, les sous-systèmes (fibres, câbles et composants à fibre optique).
IEC/TC 47/SC 47D | BOÎTIERS DES DISPOSITIFS SEMI-CONDUCTEURS |
IEC/TC 47/SC 47E | DISPOSITIFS DISCRETS À SEMICONDUCTEURS |
IEC/TC 47/SC 47F | SYSTÈMES MICROÉLECTROMÉCANIQUES |
CLC/SR 47 | DISPOSITIFS À SEMICONDUCTEURS |
CLC/SR 47D | NORMALISATION MÉCANIQUE DES DISPOSITIFS À SEMICONDUCTEURS |
CLC/SR 47E | DISPOSITIFS DISCRETS À SEMICONDUCTEURS |
CLC/SR 47F | SYSTÈMES MICROÉLECTROMÉCANIQUES |
IEC/TC 47/SC 47F/MT 1 | MAINTENANCE TEAM FOR THE PUBLISHED ISS UNDER SC 47F/ WG 2 |
IEC/TC 47/SC 47E/PT 60747-14-11 | SEMICONDUCTOR DEVICES ' PART 14-11: SEMICONDUCTOR SENSORS ' TEST METHOD OF SURFACE ACOUSTIC WAVE BASED INTEGRATED SENSOR FOR MEASURING ULTRA VIOLET, ILLUMINATION AND TEMPERATURE |
IEC/TC 47 | DISPOSITIFS À SEMICONDUCTEURS |
Expert | Organisme d'appartenance | Organisme représenté |
---|---|---|
MME. BONNEAU | UMS - UNITED MONOLITHIC SEMICONDUCTORS SAS | ACSIEL |
M. GUIOT | SOITEC | ACSIEL |
M. BLANCHARD | AEXOR | AEXOR |
MME. VIGNOLLES | AEXOR | AEXOR |
Expert | Organisme d'appartenance | Organisme représenté |
---|---|---|
M. JOUANOLLE | DGA - DT/IP/MCM/PCO | DGA - DT/IP/MCM/PCO |
Expert | Organisme d'appartenance | Organisme représenté |
---|---|---|
M. TALBOURDET | EDF | EDF |
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