SUIVRE
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Optique et photonique
UNM/20
- Domaine : OPTIQUE ET INSTRUMENTS D'OPTIQUE
- Secteur d'activité : Equipements et solutions Industriels
- Filière : Française
Sources lasers et applications laser, composants optiques, réseaux de micro-lentilles, optique intégrée, microscopes, télescopes et instruments géodésiques A l'exclusion de l'optique ophtalmique et des lasers médicaux
Tous aspects: normes fondamentales d?optique, indications sur les dessins, méthodes d'essai, traitements de surface, sécurité
Tous secteurs à l'exclusion du médical
Suivi des travaux européens (CEN/TC 123) et internationaux (ISO/TC 172 à l'exception de l'ISO/TC 172/SC 7).
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Président :
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Secrétaire : FRIGUI Sondès (UNM)
Cette structure ne dispose pas de groupe de travail
Liste des structures européennes et internationales suivies par la Commission de normalisation
| ISO/TC 172/SC 3 | MATéRIAUX ET COMPOSANTS OPTIQUES |
| ISO/TC 172 | OPTIQUE ET PHOTONIQUE |
| ISO/TC 172/SC 1 | NORMES FONDAMENTALES |
| ISO/TC 172/SC 4 | SYSTèMES TéLESCOPIQUES |
| ISO/TC 172/SC 5 | MICROSCOPES ET ENDOSCOPES |
| ISO/TC 172/SC 9 | LASERS ET SYSTèMES éLECTRO-OPTIQUES |
| CEN/TC 123 | LASERS ET PHOTONIQUE |
| CEN/TC 170 | OPHTALMIQUE OPTIQUE |
| ISO/TC 172/SC 6 | INSTRUMENTS GéODéSIQUES ET D'OBSERVATION |
| ISO/TC 172/SC 1/WG 1 | MéTHODES D'ESSAIS OPTIQUES GéNéRALES |
| ISO/TC 172/SC 1/WG 2 | PRéPARATION DE DESSINS POUR éLéMENTS ET SYSTèMES OPTIQUES |
| ISO/TC 172/SC 1/WG 3 | MéTHODES D'ESSAIS RELATIVES à L'ENVIRONNEMENT |
| ISO/TC 172/SC 3/WG 1 | VERRE OPTIQUE BRUT |
| ISO/TC 172/SC 3/WG 2 | TRAITEMENTS |
| ISO/TC 172/SC 4/WG 2 | DISPOSITIFS TéLESCOPIQUES |
| ISO/TC 172/SC 5/WG 3 | TERMES ET DéFINITIONS |
| ISO/TC 172/SC 5/WG 6 | ENDOSCOPES |
| ISO/TC 172/SC 9/WG 1 | TERMINOLOGIE ET MéTHODES D'ESSAI POUR LES LASERS |
| ISO/TC 172/SC 9/JWG 3 | GT MIXTE ISO/TC 172/SC 9-IEC/TC 76: SéCURITé |
| ISO/TC 172/SC 9/WG 7 | SYSTèMES éLECTRO-OPTIQUES AUTRES QUE LES LASERS |
| ISO/TC 172/SC 3/WG 3 | CARACTéRISATION DES MATéRIAUX IR |
| ISO/TC 172/SC 5/WG 9 | PERFORMANCES OPTIQUES DES COMPOSANTS DES MICROSCOPES |
| ISO/TC 172/SC 5/WG 10 | MICROSCOPIE |
| ISO/TC 172/AHG | AR/VR EN RELATION AVEC L'ISO/TC 172 |
| ISO/TC 172/SC 6/WG 4 | MéTHODES SUR SITE ET DISPOSITIFS AUXILIAIRES |
| ISO/TC 172/WG 1 | LONGUEURS D'ONDE DE RéFéRENCE |
| ISO/TC 172/SC 6/WG 5 | TERMINOLOGIE |
Fabricant ou prestataire
| Expert | Organisme d'appartenance | Organisme représenté |
|---|---|---|
| M. ROSALA | ADVEOTEC | ARGOLIGHT |
| M. ROYON | ARGOLIGHT | ARGOLIGHT |
| M. BUCOURT | IMAGINE OPTIC | IMAGINE OPTIC |
| MME. GABORIAU-GIL | SYNOPSYS EMULATION AND VERIFICATION | SYNOPSYS EMULATION AND VERIFICATION |
| M. SEBILLEAU | EXPERT SFN | THALES SESO SAS |
| M. CORNIBERT | UNM | UNM |
| MME. CROS | UNM | UNM |
| MME. FRIGUI | UNM | UNM |
| MME. LUDIVION | UNM | UNM |
| MME. MORET | UNM | UNM |
| M. ROBERT | UNM | UNM |
Support technique
| Expert | Organisme d'appartenance | Organisme représenté |
|---|---|---|
| M. LAMAIGNERE | CEA CESTA | CEA CESTA |
| M. FAKLARIS | CNRS - CRBM-MRI | CNRS - CRBM-MRI |
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de cette commission de normalisation.
Nous reviendrons vers vous prochainement pour vous apporter les informations complémentaires relatives à cette structure.
Les équipes AFNOR Normalisation