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  • Granulometrie - methodes d'analyse et de controle autres que tamisage


    AFNOR/X11L

  • Domaine : NANOTECHNOLOGIES - NANOMATERIAUX
  • Secteur d'activité :
  • Filière : Française
  • - compréhension et contrôle de la matière et des processus à l’échelle nanométrique, typiquement, mais non exclusivement, au-dessous de 100 nanomètres dans une ou plusieurs dimensions quand l’apparition de phénomènes liés à la dimension permet en général de nouvelles applications,
     
    - utilisation des propriétés des objets nanométriques qui diffèrent des propriétés d'atomes individuels, des molécules et des matériaux macroscopiques pour créer des substances améliorées, des dispositifs et des systèmes qui exploitent ces nouvelles propriétés.Aspects couverts
  • Président :
  • Secrétaire : LANGLOIS BERTRAND Emilie (AFNOR)
Fabricant ou prestataire
Expert Organisme d'appartenance Organisme représenté
M. BIARD AEROMETRIK AEROMETRIK
M. GALLAIS AEROMETRIK AEROMETRIK
MME. ROUSSEL HORIBA FRANCE SAS HORIBA FRANCE SAS
M. FELTIN LNE - LABO NAL DE METROLOGIE ET D ESSAIS LNE - LABO NAL DE METROLOGIE ET D ESSAIS
M. OUF LNE - LABO NAL DE METROLOGIE ET D ESSAIS LNE - LABO NAL DE METROLOGIE ET D ESSAIS
MME. DARNAUD MANUFACTURE FRANCAISE DES PNEUMATIQUES MICHELIN MANUFACTURE FRANCAISE DES PNEUMATIQUES MICHELIN
M. LEFEUVRE MICROTRAC FORMULACTION MICROTRAC FORMULACTION
M. LEMAHIEU MICROTRAC FORMULACTION MICROTRAC FORMULACTION
M. FAURE XENOCS SA XENOCS SA
M. HOGHOJ XENOCS SA XENOCS SA

Utilisateur ou destinataire
Expert Organisme d'appartenance Organisme représenté
MME. REGNAUD FRANCE CIMENT FRANCE CIMENT

Evaluateur
Expert Organisme d'appartenance Organisme représenté
M. GAUTIER FILAB FILAB

Support technique
Expert Organisme d'appartenance Organisme représenté
MME. HUCLIER CNRS CNRS