NormInfo

tutoriels
  • SUIVRE
  • Analyse par réflectométrie de rayons X et par fluorescence de rayons X


    ISO/TC 201/SC 10

  • Domaine : ANALYSE CHIMIQUE DES SURFACES ET ANALYSE PAR MICRO
  • Secteur d'activité :
  • Filière : Internationale
  • Normalisation des méthodes pour la spécification des instruments, de leur étalonnage et de leur fonctionnement, pour l'acquisition, le traitement et l'analyse des données pour l'utilisation de la réflectométrie de rayons X (XRR) et la fluorescence de rayons X (XRF) en analyse de la composition chimique et structurelle des surfaces.
  • Informations détaillées de la structure
  • Président : Depero Laura
  • Manager : Fujimoto Toshiyuki
  • Secrétariat assuré par : Japon
Liste des structures françaises assurant le suivi des normes élaborées par le comité ou sous-comité technique
AFNOR/X21A ANALYSE CHIMIQUE DES SURFACES ET ANALYSE DES SURFACES PAR MICRO-FAISCEAUX