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  • Dispositifs à semiconducteurs


    AFNOR/UF 47

  • Domaine : SEMI-CONDUCTEURS - FIBRES OPTIQUES
  • Secteur d'activité : Electrotechnologies
  • Filière : Française
  • Activité

    Les dispositifs semi-conducteurs discrets, les circuits intégrés, les capteurs, l’assemblage de composants électroniques, les exigences d'interface, et les dispositifs micro-électro-mécaniques (MEMS).

    Secteur d’application

    Public, militaire, industriel, aéronautique spatiale.

    Aspects couverts

    Modélisation des émissions rayonnées de composants électroniques pour des applications CEM, méthodes d’essai spécifiques des différents dispositifs, ainsi que les méthodes de mesure, les exigences d'interface et la prise en compte de la CEM lors des phases de conception.

    Sont exclus de ce domaine d’activité : les circuits intégrés passifs, les systèmes de conversion photovoltaïque de l’énergie, les sous-systèmes (fibres, câbles et composants à fibre optique).

  • Président :
  • Secrétaire : GUEDON Laurence (AFNOR)
Cette structure ne dispose pas de groupe de travail
Liste des structures européennes et internationales suivies par la commission de normalisation
IEC/TC 47 DISPOSITIFS À SEMICONDUCTEURS
IEC/TC 47/SC 47D BOÎTIERS DES DISPOSITIFS SEMI-CONDUCTEURS
IEC/TC 47/SC 47E DISPOSITIFS DISCRETS À SEMICONDUCTEURS
IEC/TC 47/SC 47F SYSTÈMES MICROÉLECTROMÉCANIQUES
CLC/SR 47 DISPOSITIFS À SEMICONDUCTEURS
CLC/SR 47D NORMALISATION MÉCANIQUE DES DISPOSITIFS À SEMICONDUCTEURS
CLC/SR 47E DISPOSITIFS DISCRETS À SEMICONDUCTEURS
CLC/SR 47F SYSTÈMES MICROÉLECTROMÉCANIQUES
IEC/TC 47/SC 47F/MT 1 MAINTENANCE TEAM FOR THE PUBLISHED ISS UNDER SC 47F/ WG 2
IEC/TC 47/SC 47E/PT 60747-14-11 SEMICONDUCTOR DEVICES ' PART 14-11: SEMICONDUCTOR SENSORS ' TEST METHOD OF SURFACE ACOUSTIC WAVE BASED INTEGRATED SENSOR FOR MEASURING ULTRA VIOLET, ILLUMINATION AND TEMPERATURE
Fabricant ou prestataire
  • ACSIEL
  • AEXOR
Intermédiaire
  • DGA - DT/IP/MCM/PCO
Utilisateur ou destinataire
  • EDF