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  • Analyse chimique des surfaces et analyse des surfaces par micro-faisceaux


    AFNOR/X21A

  • Domaine : ANALYSE CHIMIQUE DES SURFACES ET ANALYSE PAR MICRO
  • Secteur d'activité : Equipements et solutions Industriels
  • Filière : Française

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  • Président :
  • Secrétaire : JARDEL Laurie (AFNOR)
Liste des structures européennes et internationales suivies par la Commission de normalisation
ISO/TC 201 ANALYSE CHIMIQUE DES SURFACES
ISO/TC 201/SC 1 TERMINOLOGIE
ISO/TC 201/SC 1/WG 2 DÉFINITIONS DES TERMES
ISO/TC 201/SC 2 PROCÉDURES GÉNÉRALES
ISO/TC 201/SC 3 GESTION ET TRAITEMENT DES DONNÉES
ISO/TC 201/SC 4 PROFILAGE D'ÉPAISSEUR
ISO/TC 201/SC 6 SPECTROMÉTRIE DE MASSE DES IONS SECONDAIRES
ISO/TC 201/SC 7 SPECTROSCOPIES D'ÉLECTRONS
ISO/TC 201/SC 7/WG 2 QUANTIFICATION ET INTERPRÉTATION DES DONNÉES EN SPECTROSCOPIE DES ÉLECTRONS
ISO/TC 202 ANALYSE PAR MICROFAISCEAUX
ISO/TC 202/SC 1 TERMINOLOGIE
ISO/TC 202/SC 2 MICROANALYSE PAR SONDE À ÉLECTRONS
ISO/TC 202/SC 3 MICROSCOPIE ANALYTIQUE À ÉLECTRONS
ISO/TC 201/SC 8 SPECTROSCOPIE À DÉCHARGE LUMINEUSE
ISO/TC 202/SC 4 MICROSCOPIE ÉLECTRONIQUE À BALAYAGE
ISO/TC 201/SC 9 MICROSCOPIE PAR SONDE À BALAYAGE
ISO/TC 201/SC 6/WG 4 SIMS NANO ET ORGANIQUE
ISO/TC 201/SC 9/SG 1 EFFETS DE LA TEMPÉRATURE ET DE L'HUMIDITÉ SUR LES MESURES DIMENSIONNELLES DE MICROSCOPIE À FORCE ATOMIQUE (MFA)
ISO/TC 201/SC 9/WG 4 ETALONNAGE DIMENSIONEL DES MICROSCOPES À BALAYAGE DE SONDE ORIENTÉ VERS LES APPLICATIONS
ISO/TC 201/SC 9/WG 5 ETALONNAGE DES SONDES
ISO/TC 201/SC 9/CAG GROUPE CONSULTATIF DU PRÉSIDENT
ISO/TC 201/SC 9/WG 6 UTILISATION D' ESPM
ISO/TC 201/SG 1 CARACTÉRISATION DES NANO-MATÉRIAUX
ISO/TC 201/WG 4 CARACTÉRISATION DES SURFACES DES BIOMATÉRIAUX
ISO/TC 201/WG 5 ANALYSE DE L'INTERFACE OPTIQUE
ISO/TC 201/SC 4/SG 1 PROFILAGE D'ÉPAISSEUR NON DESTRUCTIF EN UTILISANT LA DIFFUSION D'IONS
ISO/TC 201/SC 9/SG 2 UTILISATION DES NSOM/SNOM
ISO/TC 201/SC 3/SG 1 FORMAT DE DONNÉES DE MICROSCOPIE À FORCE ATOMIQUE POUR LA MÉTROLOGIE HYBRIDE
ISO/TC 201/SC 4/SG 2 PARAMÈTRES DE RÉSOLUTION D'ÉPAISSEUR
ISO/TC 201/SC 9/SG 3 MESURE DE LA RUGOSITÉ À L¿ÉCHELLE NANOMÉTRIQUE
ISO/TC 201/SC 9/SG 4 UTILISATION DE LA MICROSCOPIE À EFFET TUNNEL (STM)
ISO/TC 201/SC 10 ANALYSE PAR RÉFLECTOMÉTRIE DE RAYONS X ET PAR FLUORESCENCE DE RAYONS X
ISO/TC 201/SC 9/WG 7 PROPRIÉTÉS MÉCANIQUES DES MATÉRIAUX
ISO/TC 201/SC 10/WG 1 TECHNIQUE PAR FLUORESCENCE X (XRF)
ISO/TC 201/SC 9/SG 5 ETALONNAGE DIMENSIONNEL DE BASE POUR LES MICROSCOPES À BALAYAGE DE SONDE
ISO/TC 202/AG ORIENTATIONS FUTURES DANS L¿ANALYSE PAR MICROFAISCEAUX
ISO/TC 202/SC 2/WG 10 LIGNES DIRECTRICES POUR LA DÉTERMINATION DES PARAMÈTRES EXPÉRIMENTAUX POUR LA SPECTROMÉTRIE À DISPERSION DE LONGUEUR D¿ONDE
ISO/TC 201/SC 4/SG 5 MESURAGE DE L'ÉPAISSEUR DES FILMS D'OXYDE PAR ÉTALONNAGE MUTUEL
ISO/TC 201/SC 2/WG 4 MANIPULATION DES ÉCHANTILLONS
ISO/TC 202/WG 6 ANALYSE PAR MICROFAISCEAUX - LIGNES DIRECTRICES POUR L'ANALYSE PAR DIFFRACTION DES ÉLECTRONS RÉTRODIFFUSÉS
ISO/TC 201/SC 3/SG 2 DONNÉES XPS DE SOURCE OUVERTE ET PLATEFORMES DE DISCUSSION
ISO/TC 201/SC 3/SG 4 FORMAT DE TRANSFERT DE DONNÉES ET D'INFORMATIONS
ISO/TC 201/SC 8/SG 2 ANALYSE DES REVÊTEMENTS MÉTALLIQUES À BASE D'ÉTAIN PAR SPECTROSCOPIE D'ÉMISSION OPTIQUE À DÉCHARGE LUMINESCENTE
ISO/TC 201/SG 2 ANALYSE DE LA SURFACE DES MATÉRIAUX ÉNERGÉTIQUES
ISO/TC 201/SC 6/SG 1 TOMOGRAPHIE PAR SONDE ATOMIQUE
ISO/TC 201/SC 7/SG 2 NORMES POUR LA QUANTIFICATION EN NAP-XPS (SPECTROSCOPIE DE PHOTOÉMISSION INDUITE PAR RAYONS X À DES PRESSIONS PROCHES DE L'AMBIANTE)
ISO/TC 201/SC 7/SG 3 NORMES POUR HAXPES (SPECTROSCOPIE DE PHOTOÉLECTRONS PAR RAYONS X À HAUTE ÉNERGIE)
ISO/TC 201/SC 6/SG 2 IMAGERIE PAR SPECTROMÉTRIE DE MASSE
ISO/TC 201/SC 3/SG 5 INGÉNIERIE DES CONNAISSANCES POUR L'ANALYSE CHIMIQUE DES SURFACES