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Activité: Sources lasers et applications laser, composants optiques, réseaux de micro-lentilles, optique intégrée, microscopes, télescopes et instruments géodésiques A l'exclusion de l'optique ophtalmique et des lasers médicaux
Secteurs d'application: Tous secteurs à l'exclusion du médical
Aspects couverts: Tous aspects: normes fondamentales d?optique, indications sur les dessins, méthodes d'essai, traitements de surface, sécurité,
Informations complémentaires: Suivi des travaux européens (CEN/TC 123) et internationaux (ISO/TC 172 à l'exception de l'ISO/TC 172/SC 7).
ISO/TC 172/SC 3 | MATÉRIAUX ET COMPOSANTS OPTIQUES |
ISO/TC 172 | OPTIQUE ET PHOTONIQUE |
ISO/TC 172/SC 1 | NORMES FONDAMENTALES |
ISO/TC 172/SC 4 | SYSTÈMES TÉLESCOPIQUES |
ISO/TC 172/SC 5 | MICROSCOPES ET ENDOSCOPES |
ISO/TC 172/SC 9 | LASERS ET SYSTÈMES ÉLECTRO-OPTIQUES |
CEN/TC 123 | LASERS ET PHOTONIQUE |
ISO/TC 172/SC 6 | INSTRUMENTS GÉODÉSIQUES ET D'OBSERVATION |
ISO/TC 172/SC 1/WG 1 | MÉTHODES D'ESSAIS OPTIQUES GÉNÉRALES |
ISO/TC 172/SC 1/WG 2 | PRÉPARATION DE DESSINS POUR ÉLÉMENTS ET SYSTÈMES OPTIQUES |
ISO/TC 172/SC 1/WG 3 | MÉTHODES D'ESSAIS RELATIVES À L'ENVIRONNEMENT |
ISO/TC 172/SC 3/WG 1 | VERRE OPTIQUE BRUT |
ISO/TC 172/SC 3/WG 2 | TRAITEMENTS |
ISO/TC 172/SC 4/WG 2 | DISPOSITIFS TÉLESCOPIQUES |
ISO/TC 172/SC 5/WG 3 | TERMES ET DÉFINITIONS |
ISO/TC 172/SC 5/WG 6 | ENDOSCOPES |
ISO/TC 172/SC 9/WG 1 | TERMINOLOGIE ET MÉTHODES D'ESSAI POUR LES LASERS |
ISO/TC 172/SC 9/JWG 3 | GT MIXTE ISO/TC 172/SC 9-IEC/TC 76: SÉCURITÉ |
ISO/TC 172/SC 9/WG 7 | SYSTÈMES ÉLECTRO-OPTIQUES AUTRES QUE LES LASERS |
ISO/TC 172/SC 3/WG 3 | CARACTÉRISATION DES MATÉRIAUX IR |
ISO/TC 172/SC 5/WG 9 | PERFORMANCES OPTIQUES DES COMPOSANTS DES MICROSCOPES |
ISO/TC 172/SC 5/WG 10 | MICROSCOPIE |
ISO/TC 172/SC 6/WG 3 | MODES OPÉRATOIRES DE LABORATOIRE PERMETTANT DE SOUMETTRE À L¿ESSAI LES INSTRUMENTS D¿OBSERVATION ET LES INSTRUMENTS UTILISÉS DANS LE DOMAINE DE LA CONSTRUCTION |
ISO/TC 172/AHG | AR/VR EN RELATION AVEC L'ISO/TC 172 |
ISO/TC 172/SC 6/WG 4 | MÉTHODES SUR SITE ET DISPOSITIFS AUXILIAIRES |
ISO/TC 172/SC 1/AHG 2 | NORMES DU SC 1 LIÉES À LA PHOTOGRAPHIE |
Expert | Organisme d'appartenance | Organisme représenté |
---|---|---|
M. FUSS | SODERN | GIFAS |
M. BRAY | MBO METROLOGY | GIFO |
M. BUCOURT | IMAGINE OPTIC | GIFO |
M. CONTET | OPTIQUE PRECISION J FICHOU SA | GIFO |
M. CORNIL | LIGHT TEC | GIFO |
MME. LIARD CLOUP | HORIBA FRANCE SAS | GIFO |
M. NICOLLE | HORIBA FRANCE SAS | GIFO |
M. NIVESSE | GIFO | GIFO |
M. PAPON | ARGOLIGHT | GIFO |
M. ROBERT | THALES SESO | GIFO |
M. ROSALA | ADVEOTEC | GIFO |
M. ROYON | ARGOLIGHT | GIFO |
M. SEBILLEAU | THALES SESO | GIFO |
M. SIMON-BOISSON | THALES OPTRONIQUE SAS | GIFO |
M. TESTART | GIFO | GIFO |
Expert | Organisme d'appartenance | Organisme représenté |
---|---|---|
M. LAMAIGNÈRE | CEA CESTA | CEA CESTA |
PR. LI | IETR UMR CNRS 6164 | IETR UMR CNRS 6164 |
DR. ZERRAD | INSTITUT FRESNEL | INSTITUT FRESNEL |
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