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  • Granulometrie - methodes d'analyse et de controle autres que tamisage

    AFNOR/X11L

  • Domaine : NANOTECHNOLOGIES - NANOMATERIAUX
  • Secteur d'activité :
  • Filière : Française

  • Normalisation dans le domaine des nanotechnologies qui comprend soit l’un soit l’ensemble des aspects suivants : - compréhension et contrôle de la matière et des processus à l’échelle nanométrique, typiquement, mais non exclusivement, au-dessous de 100 nanomètres dans une ou plusieurs dimensions quand l’apparition de phénomènes liés à la dimension permet en général de nouvelles applications, - utilisation des propriétés des objets nanométriques qui diffèrent des propriétés d'atomes individuels, des molécules et des matériaux macroscopiques pour créer des substances améliorées, des dispositifs et des systèmes qui exploitent ces nouvelles propriétés. Des tâches spécifiques incluent le développement de normes concernant : - la terminologie et la nomenclature, - la métrologie et l’instrumentation, y compris les spécifications pour les matériaux de référence, - les méthodologies d'essai, - le calcul et la simulation, - des pratiques liées à la santé, à la sécurité et à l’environnement, établies sur des bases scientifiques.- terminologie et nomenclature, - mesure et caractérisation, - hygiène, santé et environnement (dont le cycle de vie), - spécifications commerciales (caractéristiques physiques, chimiques et applicatives des nanomatériaux) et relations entre les parties prenantes (B2B et B2C), - "aspects sociétaux" (Développement Responsable, Société et consommateurs). L'objectif global est de favoriser le développement des nanotechnologies afin de pouvoir bénéficier de leurs avancées tout en se prémunissant de leurs potentiels effets négatifs.Tous les secteurs concernés par une des étapes du cycle de vie, de la conception à la fin de vie des produits issus des nanotechnologies.La commission X457 "nanotechnologies et nanomatériaux" est le miroir des comités techniques européen CEN/TC 352 et international ISO/TC 229 "nanotechnologies".

  • Président :

  • Secrétaire : LANGLOIS BERTRAND Emilie (AFNOR)

Fabricant ou prestataire

Expert Organisme d'appartenance Organisme représenté
M. BIARD AEROMETRIK AEROMETRIK
M. GALLAIS AEROMETRIK AEROMETRIK
MME. ROUSSEL HORIBA FRANCE SAS HORIBA FRANCE SAS
MME. DARNAUD MANUFACTURE FRANCAISE DES PNEUMATIQUES MICHELIN MANUFACTURE FRANCAISE DES PNEUMATIQUES MICHELIN
M. LEFEUVRE MICROTRAC FORMULACTION MICROTRAC FORMULACTION
M. LEMAHIEU MICROTRAC FORMULACTION MICROTRAC FORMULACTION
M. HOGHOJ XENOCS SA XENOCS SA

Utilisateur ou destinataire

Expert Organisme d'appartenance Organisme représenté
MME. REGNAUD FRANCE CIMENT FRANCE CIMENT

Support technique

Expert Organisme d'appartenance Organisme représenté
MME. HUCLIER CNRS CNRS
M. CELZARD CNRS / INSTITUT JEAN LAMOUR UMR 7198 CNRS / INSTITUT JEAN LAMOUR UMR 7198
M. FELTIN LNE - LABO NAL DE METROLOGIE ET D ESSAIS LNE - LABO NAL DE METROLOGIE ET D ESSAIS
M. OUF LNE - LABO NAL DE METROLOGIE ET D ESSAIS LNE - LABO NAL DE METROLOGIE ET D ESSAIS