- Sources lasers et applications laser, composants optiques, réseaux de micro-lentilles, optique intégrée, microscopes, télescopes et instruments géodésiques A l'exclusion de l'optique ophtalmique et des lasers médicauxTous aspects: normes fondamentales d?optique, indications sur les dessins, méthodes d'essai, traitements de surface, sécuritéTous secteurs à l'exclusion du médicalSuivi des travaux européens (CEN/TC 123) et internationaux (ISO/TC 172 à l'exception de l'ISO/TC 172/SC 7).
-
Président : LUDIVION nadiege
(UNM)
-
Secrétaire : FRIGUI sondès
(UNM)
Cette structure ne dispose pas de groupe de travail
Liste des structures européennes et internationales suivies par la Commission de normalisation
| ISO/TC 172/SC 3 |
MATéRIAUX ET COMPOSANTS OPTIQUES |
| ISO/TC 172 |
OPTIQUE ET PHOTONIQUE |
| ISO/TC 172/SC 1 |
NORMES FONDAMENTALES |
| ISO/TC 172/SC 4 |
SYSTèMES TéLESCOPIQUES |
| ISO/TC 172/SC 5 |
MICROSCOPES ET ENDOSCOPES |
| ISO/TC 172/SC 9 |
LASERS ET SYSTèMES éLECTRO-OPTIQUES |
| CEN/TC 123 |
LASERS ET PHOTONIQUE |
| CEN/TC 170 |
OPHTALMIQUE OPTIQUE |
| ISO/TC 172/SC 6 |
INSTRUMENTS GéODéSIQUES ET D'OBSERVATION |
| ISO/TC 172/SC 1/WG 1 |
MéTHODES D'ESSAIS OPTIQUES GéNéRALES |
| ISO/TC 172/SC 1/WG 2 |
PRéPARATION DE DESSINS POUR éLéMENTS ET SYSTèMES OPTIQUES |
| ISO/TC 172/SC 1/WG 3 |
MéTHODES D'ESSAIS RELATIVES à L'ENVIRONNEMENT |
| ISO/TC 172/SC 3/WG 1 |
VERRE OPTIQUE BRUT |
| ISO/TC 172/SC 3/WG 2 |
TRAITEMENTS |
| ISO/TC 172/SC 4/WG 2 |
DISPOSITIFS TéLESCOPIQUES |
| ISO/TC 172/SC 5/WG 3 |
TERMES ET DéFINITIONS |
| ISO/TC 172/SC 5/WG 6 |
ENDOSCOPES |
| ISO/TC 172/SC 9/WG 1 |
TERMINOLOGIE ET MéTHODES D'ESSAI POUR LES LASERS |
| ISO/TC 172/SC 9/JWG 3 |
GT MIXTE ISO/TC 172/SC 9-IEC/TC 76: SéCURITé |
| ISO/TC 172/SC 9/WG 7 |
SYSTèMES éLECTRO-OPTIQUES AUTRES QUE LES LASERS |
| ISO/TC 172/SC 3/WG 3 |
CARACTéRISATION DES MATéRIAUX IR |
| ISO/TC 172/SC 5/WG 9 |
PERFORMANCES OPTIQUES DES COMPOSANTS DES MICROSCOPES |
| ISO/TC 172/SC 5/WG 10 |
MICROSCOPIE |
| ISO/TC 172/AHG |
AR/VR EN RELATION AVEC L'ISO/TC 172 |
| ISO/TC 172/SC 6/WG 4 |
MéTHODES SUR SITE ET DISPOSITIFS AUXILIAIRES |
| ISO/TC 172/WG 1 |
LONGUEURS D'ONDE DE RéFéRENCE |
| ISO/TC 172/SC 6/WG 5 |
TERMINOLOGIE |
Fabricant ou prestataire
| Expert |
Organisme d'appartenance |
Organisme représenté |
| M. ROSALA |
ADVEOTEC |
ARGOLIGHT |
| M. ROYON |
ARGOLIGHT |
ARGOLIGHT |
| M. BUCOURT |
IMAGINE OPTIC |
IMAGINE OPTIC |
| MME. GABORIAU-GIL |
SYNOPSYS EMULATION AND VERIFICATION |
SYNOPSYS EMULATION AND VERIFICATION |
| M. SEBILLEAU |
EXPERT SFN |
THALES SESO SAS |
| M. CORNIBERT |
UNM |
UNM |
| MME. CROS |
UNM |
UNM |
| MME. FRIGUI |
UNM |
UNM |
| MME. LUDIVION |
UNM |
UNM |
| MME. MORET |
UNM |
UNM |
| M. ROBERT |
UNM |
UNM |
Support technique
| Expert |
Organisme d'appartenance |
Organisme représenté |
| M. LAMAIGNERE |
CEA CESTA |
CEA CESTA |
| M. FAKLARIS |
CNRS - CRBM-MRI |
CNRS - CRBM-MRI |
