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  • Optique et photonique


    UNM/20

  • Domaine : OPTIQUE ET INSTRUMENTS D'OPTIQUE
  • Secteur d'activité : Equipements et solutions Industriels
  • Filière : Française
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  • Activité: Sources lasers et applications laser, composants optiques, réseaux de micro-lentilles, optique intégrée, microscopes, télescopes et instruments géodésiques A l'exclusion de l'optique ophtalmique et des lasers médicaux

    Secteurs d'application: Tous secteurs à l'exclusion du médical

    Aspects couverts: Tous aspects: normes fondamentales d?optique, indications sur les dessins, méthodes d'essai, traitements de surface, sécurité,

    Informations complémentaires: Suivi des travaux européens (CEN/TC 123) et internationaux (ISO/TC 172 à l'exception de l'ISO/TC 172/SC 7).

  • Président : LUBINEAU Catherine (Union de Normalisation de la Mécanique)
  • Secrétaire : LAMARCQ Karine (Union de Normalisation de la Mécanique)
Cette structure ne dispose pas de groupe de travail
Liste des structures européennes et internationales suivies par la Commission de normalisation
ISO/TC 172/SC 3 MATÉRIAUX ET COMPOSANTS OPTIQUES
ISO/TC 172 OPTIQUE ET PHOTONIQUE
ISO/TC 172/SC 1 NORMES FONDAMENTALES
ISO/TC 172/SC 4 SYSTÈMES TÉLESCOPIQUES
ISO/TC 172/SC 5 MICROSCOPES ET ENDOSCOPES
ISO/TC 172/SC 9 LASERS ET SYSTÈMES ÉLECTRO-OPTIQUES
CEN/TC 123 LASERS ET PHOTONIQUE
CEN/TC 170 OPTIQUE OPHTALMIQUE
ISO/TC 172/SC 6 INSTRUMENTS GÉODÉSIQUES ET D'OBSERVATION
ISO/TC 172/SC 1/WG 1 MÉTHODES D'ESSAIS OPTIQUES GÉNÉRALES
ISO/TC 172/SC 1/WG 2 PRÉPARATION DE DESSINS POUR ÉLÉMENTS ET SYSTÈMES OPTIQUES
ISO/TC 172/SC 1/WG 3 MÉTHODES D'ESSAIS RELATIVES À L'ENVIRONNEMENT
ISO/TC 172/SC 3/WG 1 VERRE OPTIQUE BRUT
ISO/TC 172/SC 3/WG 2 TRAITEMENTS
ISO/TC 172/SC 4/WG 2 DISPOSITIFS TÉLESCOPIQUES
ISO/TC 172/SC 5/WG 3 TERMES ET DÉFINITIONS
ISO/TC 172/SC 5/WG 6 ENDOSCOPES
ISO/TC 172/SC 9/WG 1 TERMINOLOGIE ET MÉTHODES D'ESSAI POUR LES LASERS
ISO/TC 172/SC 9/JWG 3 GT MIXTE ISO/TC 172/SC 9-IEC/TC 76: SÉCURITÉ
ISO/TC 172/SC 9/WG 7 SYSTÈMES ÉLECTRO-OPTIQUES AUTRES QUE LES LASERS
ISO/TC 172/SC 3/WG 3 CARACTÉRISATION DES MATÉRIAUX IR
ISO/TC 172/SC 5/WG 9 PERFORMANCES OPTIQUES DES COMPOSANTS DES MICROSCOPES
ISO/TC 172/SC 5/WG 10 MICROSCOPIE
ISO/TC 172/AHG AR/VR EN RELATION AVEC L'ISO/TC 172
ISO/TC 172/SC 6/WG 4 MÉTHODES SUR SITE ET DISPOSITIFS AUXILIAIRES
ISO/TC 172/WG 1 LONGUEURS D'ONDE DE RÉFÉRENCE
ISO/TC 172/SC 6/WG 5 TERMINOLOGIE
Fabricant ou prestataire
Expert Organisme d'appartenance Organisme représenté
M. ROSALA ADVEOTEC ARGOLIGHT
M. ROYON ARGOLIGHT ARGOLIGHT
M. SEBILLEAU EXPERT SFN EXPERT SFN
M. BUCOURT IMAGINE OPTIC IMAGINE OPTIC
M. FUSS SODERN SODERN
MME. GABORIAU-GIL SYNOPSYS EMULATION AND VERIFICATION SYNOPSYS EMULATION AND VERIFICATION
MME. LUBINEAU Union de Normalisation de la Mécanique Union de Normalisation de la Mécanique

Support technique
Expert Organisme d'appartenance Organisme représenté
M. LAMAIGNÈRE CEA CESTA CEA CESTA
M. FAKLARIS CNRS - CRBM-MRI CNRS - CRBM-MRI
PR. LI IETR UMR CNRS 6164 IETR UMR CNRS 6164