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  • Nanotechnologies relatives aux appareils et systèmes électriques et électroniques


    AFNOR/UF 113

  • Domaine : COMP ELECTRON PASSIFS - CONNEXIONS
  • Secteur d'activité : Electrotechnologies
  • Filière : Française

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  • Président :
  • Secrétaire : MARROT Sacha (AFNOR)
Liste des structures européennes et internationales suivies par la Commission de normalisation
IEC/TC 113 NORMALISATION DANS LE DOMAINE DES NANOTECHNOLOGIES RELATIVES AUX APPAREILS ET SYSTÈMES ÉLECTRIQUES ET ÉLECTRONIQUES
CLC/SR 113 NORMALISATION DES NANOTECHNOLOGIES RELATIVES AUX APPAREILS ET SYSTÈMES ÉLECTRIQUES ET ÉLECTRONIQUES
IEC/TC 113/JPT 62607-6-3 NANOFABRICATION - CARACTÉRISTIQUES DE CONTRÔLE CLÉ ¿ PARTIE 6-3: GRAPHÈNE - EVALUATION DU NIVEAU DE DÉFAUT DANS LA COUCHE DE GRAPHÈNE
IEC/TC 113/PT 62607-6-2 NANOFABRICATION - CARACTÉRISTIQUES DE CONTRÔLE CLÉ ¿ PARTIE 6-2: GRAPHÈNE ¿ EVALUATION DU NOMBRE DE COUCHES DE GRAPHÈNE
IEC/TC 113/PT 62607-6-1 NANOFABRICATION - CARACTÉRISTIQUES DE CONTRÔLE CLÉ ¿ PARTIE 6-1: GRAPHÈNE ¿ CARACTÉRISATION ÉLECTRIQUE
IEC/TC 113/MT 62607-4 NANOFABRICATION - CARACTÉRISTIQUES DE CONTRÔLE CLÉ ¿ PARTIE 4-1 : STOCKAGE DE L¿ÉNERGIE ÉLECTRIQUE PERMIS PAR LES NANOTECHNOLOGIES
IEC/TC 113/WG 7 FIABILITÉ
IEC/TC 113/WG 3 EVALUATION DE LA PERFORMANCE
IEC/TC 113/AG 4 CHAIRMAN ADVISORY GROUP
IEC/TC 113/JWG 2 MEASUREMENT AND CHARACTERIZATION
IEC/TC 113/JPT 62565-3-1 NANOMANUFACTURING - MATERIAL SPECIFICATIONS - PART 3-1: GRAPHENE - BLANK DETAIL SPECIFICATION
IEC/TC 113/JWG 1 TERMINOLOGY AND NOMENCLATURE
IEC/TC 113/PT 62607-2-4 NANOMANUFACTURING - KEY CONTROL CHARACTERISTICS - PART 2-4: CARBON NANOTUBE MATERIALS ' ACCURACY AND REPEATABILITY OF TEST METHODS FOR DETERMINATION OF RESISTANCE OF CARBON NANOTUBES
IEC/TC 113/PT 80004-12 ISO TS 80004-12 NANOTECHNOLOGIES - VOCABULARY - PART 12: QUANTUM PHENOMENA IN
IEC/TC 113/PT 62607-3-3 NANOMANUFACTURING - KEY CONTROL CHARACTERISTICS - LUMINESCENT NANOMATERIALS - DETERMINATION OF FLUORESCENCE LIFETIME
IEC/TC 113/PT 62607-5-2 NANOMANUFACTURING - KEY CONTROL CHARACTERISTICS - PART 5-2: THIN-FILM ORGANIC/NANO ELECTRONIC DEVICES - MEASURING ALTERNATING CURRENT CHARACTERISTICS
IEC/TC 113/MT 62632 NANOSCALE ELECTRICAL CONTACTS AND INTERCONNECTS
IEC/TC 113/PT 62607-5-3 NANOMANUFACTURING ' KEY CONTROL CHARACTERISTICS - PART 5-3: THIN-FILM ORGANIC/NANO ELECTRONIC DEVICES ' MEASUREMENTS OF CHARGE CARRIER CONCENTRATION
IEC/TC 113/PT 62876-3-1 NANOMANUFACTURINRELIABILITY ASSESSMENT - PART 3.1: GRAPHENE - STABILITY TEST: TEMPERATURE AND HUMIDITY
IEC/TC 113/PT 62607-6-6 NANOMANUFACTURING - KEY CONTROL CHARACTERISTICS - PART 6-6: GRAPHENE - UNIFORMITY OF STRAIN IN GRAPHENE ANALYZED BY RAMAN SPECTROSCOPY
IEC/TC 113/PT 62607-6-9 NANOMANUFACTURING - KEY CONTROL CHARACTERISTICS - PART 6-9: GRAPHENE - MEASUREMENT OF SHEET RESISTANCE BY THE NON-CONTACT EDDY CURRENT METHOD
IEC/TC 113/PT 62607-6-5 NANOMANUFACTURING - KEY CONTROL CHARACTERISTICS - PART 6-5: GRAPHENE - SHEET RESISTANCE AND CONTACT RESISTANCE OF TWO-DIMENSIONAL MATERIALS INCLUDING GRAPHENE
IEC/TC 113/PT 62607-6-14 NANOMANUFACTURING ' KEY CONTROL CHARACTERISTICS ' PART 6-14: GRAPHENE 'DEFECT LEVEL ANALYSIS IN GRAPHENE POWDER USING RAMAN SPECTROSCOPY
IEC/TC 113/PT 62607-6-13 NANOMANUFACTURING ' KEY CONTROL CHARACTERISTICS ' PART 6-13: DETERMINATION OF OXYGEN FUNCTIONAL GROUPS CONTENT OF GRAPHENE MATERIALS WITH BOEHM TITRATION METHOD
IEC/TC 113/PT 62607-6-11 NANOMANUFACTURING - KEY CONTROL CHARACTERISTICS - PART 6-11: GRAPHENE MATERIALS - DEFECT LEVEL OF GRAPHENE FILMS: RAMAN SPECTROSCOPY
IEC/TC 113/PT 62607-7-2 NANOMANUFACTURING - KEY CONTROL CHARACTERISTICS - PART 7-2: NANO-ENABLED PHOTOVOLTAICS - DEVICE EVALUATION METHOD FOR INDOOR LIGHT
IEC/TC 113/PT 62607-9-1 NANOMANUFACTURING ' KEY CONTROL CHARACTERISTICS ' PART 9-1: SPATIALLY RESOLVED MAGNETIC FIELD MEASUREMENTS ' MAGNETIC FORCE MICROSCOPY
IEC/TC 113/PT 62607-4-8 NANOMANUFACTURING - KEY CONTROL CHARACTERISTICS ' PART 4-8: NANO-ENABLED ELECTRICAL ENERGY STORAGE DEVICES - DETERMINATION OF WATER CONTENT FOR ELECTRODE NANOMATERIALS BY THE KARL FISCHER METHOD
IEC/TC 113/PT 62607-8-2 IEC TS 62607-8-2: NANOMANUFACTURING - KEY CONTROL CHARACTERISTICS - PART 8-2: NANO-ENABLED METAL-OXIDE INTERFACIAL DEVICES - TEST METHOD FOR THE POLARIZATION PROPERTIES BY THERMALLY STIMULATED DEPOLAR
IEC/TC 113/AHG 13 WAFER-SCALE SYSTEM INTEGRATION