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| ISO/TC 201 | ANALYSE CHIMIQUE DES SURFACES |
| ISO/TC 201/SC 1 | TERMINOLOGIE |
| ISO/TC 201/SC 1/WG 2 | DÉFINITIONS DES TERMES |
| ISO/TC 201/SC 2 | PROCÉDURES GÉNÉRALES |
| ISO/TC 201/SC 2/WG 2 | MATÉRIAUX DE RÉFÉRENCE |
| ISO/TC 201/SC 3 | GESTION ET TRAITEMENT DES DONNÉES |
| ISO/TC 201/SC 4 | PROFILAGE D'ÉPAISSEUR |
| ISO/TC 201/SC 6 | SPECTROMÉTRIE DE MASSE DES IONS SECONDAIRES |
| ISO/TC 201/SC 7 | SPECTROSCOPIES D'ÉLECTRONS |
| ISO/TC 201/SC 7/WG 2 | QUANTIFICATION ET INTERPRÉTATION DES DONNÉES EN SPECTROSCOPIE DES ÉLECTRONS |
| ISO/TC 202 | ANALYSE PAR MICROFAISCEAUX |
| ISO/TC 202/WG 4 | SPECTROSCOPIE DE RAYONS X À DISPERSION D¿ÉNERGIE |
| ISO/TC 202/SC 1 | TERMINOLOGIE |
| ISO/TC 202/SC 2 | MICROANALYSE PAR SONDE À ÉLECTRONS |
| ISO/TC 202/SC 3 | MICROSCOPIE ANALYTIQUE À ÉLECTRONS |
| ISO/TC 201/SC 8 | SPECTROSCOPIE À DÉCHARGE LUMINEUSE |
| ISO/TC 201/SC 6/WG 3 | RÉSOLUTION EN PROFONDEUR POUR LA SPECTROMÉTRIE DE MASSE DES IONS SECONDAIRES |
| ISO/TC 202/SC 4 | MICROSCOPIE ÉLECTRONIQUE À BALAYAGE |
| ISO/TC 201/SC 9 | MICROSCOPIE PAR SONDE À BALAYAGE |
| ISO/TC 201/SC 6/WG 4 | SIMS NANO ET ORGANIQUE |
| ISO/TC 202/WG 1 | PROCÉDURES GÉNÉRALES ET GESTION DES DONNÉS |
| ISO/TC 201/SC 9/SG 1 | EFFETS DE LA TEMPÉRATURE ET DE L'HUMIDITÉ SUR LES MESURES DIMENSIONNELLES DE MICROSCOPIE À FORCE ATOMIQUE (MFA) |
| ISO/TC 201/SC 9/WG 4 | ETALONNAGE DIMENSIONEL DES MICROSCOPES À BALAYAGE DE SONDE ORIENTÉ VERS LES APPLICATIONS |
| ISO/TC 201/SC 9/WG 5 | ETALONNAGE DES SONDES |
| ISO/TC 201/SC 9/CAG | GROUPE CONSULTATIF DU PRÉSIDENT |
| ISO/TC 201/SC 9/WG 6 | UTILISATION D' ESPM |
| ISO/TC 202/WG 7 | ANALYSE PAR MICROFAISCEAUX - DIFFRACTION D'ÉLECTRONS RÉTRODIFFUSÉS - MESURAGE DE LA TAILLE MOYENNE DES GRAINS |
| ISO/TC 201/SG 1 | CARACTÉRISATION DES NANO-MATÉRIAUX |
| ISO/TC 201/WG 4 | CARACTÉRISATION DES SURFACES DES BIOMATÉRIAUX |
| ISO/TC 201/WG 5 | ANALYSE DE L'INTERFACE OPTIQUE |
| ISO/TC 201/SC 8/WG 5 | MODES OPÉRATOIRES DE LA SPECTROMÉTRIE DE MASSE À DÉCHARGE LUMINESCENTE |
| ISO/TC 201/SC 2/SG 1 | MANIPULATION D'ÉCHANTILLONS DE NANO-MATÉRIAUX POUR L'ANALYSE CHIMIQUE DE SURFACE |
| ISO/TC 201/SC 4/SG 1 | PROFILAGE D'ÉPAISSEUR NON DESTRUCTIF EN UTILISANT LA DIFFUSION D'IONS |
| ISO/TC 201/SC 9/SG 2 | UTILISATION DES NSOM/SNOM |
| ISO/TC 201/SC 3/SG 1 | FORMAT DE DONNÉES DE MICROSCOPIE À FORCE ATOMIQUE POUR LA MÉTROLOGIE HYBRIDE |
| ISO/TC 201/SC 4/SG 2 | "DEPTH RESOLUTION PARAMETERS" |
| ISO/TC 201/SC 4/SG 3 | "SENSITIVITY FACTORS IN DEPTH PROFILING FOR MULTI-ELEMENT ALLOYS" |
| ISO/TC 201/SC 9/SG 3 | MESURE DE LA RUGOSITÉ À L¿ÉCHELLE NANOMÉTRIQUE |
| ISO/TC 201/SC 9/SG 4 | "USE OF STM" |
| ISO/TC 201/SC 7/SG 1 | QUANTIFICATION ÉLÉMENTAIRE PAR XPS |
| ISO/TC 201/SC 10 | ANALYSE PAR RÉFLECTOMÉTRIE DE RAYONS X ET PAR FLUORESCENCE DE RAYONS X |
| ISO/TC 201/SC 9/WG 7 | PROPRIÉTÉS MÉCANIQUES DES MATÉRIAUX |
| ISO/TC 201/SC 10/SG 1 | "XRR TECHNIQUE" |
| ISO/TC 201/SC 10/WG 1 | "XRF TECHNIQUE" |
| ISO/TC 201/SC 8/SG 1 | ANALYSE DES NANOCOUCHES SUR SUBSTRATS À BASE DE FER PAR SPECTROMÉTRIE D'ÉMISSION OPTIQUE À DÉCHARGE LUMINESCENTE |
| ISO/TC 201/SC 9/SG 5 | ETALONNAGE DIMENSIONNEL DE BASE POUR LES MICROSCOPES À BALAYAGE DE SONDE |
| ISO/TC 202/SC 2/WG 9 | ACIER - ANALYSE QUANTITATIVE DE LA SÉGRÉGATION DENDRITIQUE MN DANS UN PRODUIT COULÉ EN CONTINU |
| ISO/TC 202/WG 9 | LIGNES DIRECTRICES APPLICABLES À L'ANALYSE DES ERREURS D'ORIENTATION DANS L'ÉVALUATION DES DOMMAGES MÉCANIQUES PAR EBSD |
