Cette structure est actuellement inactive. Nous réactiverons cette commission en fonction des intérêts identifiés.
Si vous souhaitez être alerté à cette occasion, activez le suivi de cette structure en cliquant sur l'icône située en haut à droite de votre écran.
| ISO/TC 201 | ANALYSE CHIMIQUE DES SURFACES |
| ISO/TC 201/SC 1 | TERMINOLOGIE |
| ISO/TC 201/SC 1/WG 2 | DéFINITIONS DES TERMES |
| ISO/TC 201/SC 2 | PROCéDURES GéNéRALES |
| ISO/TC 201/SC 3 | GESTION ET TRAITEMENT DES DONNéES |
| ISO/TC 201/SC 4 | PROFILAGE D'éPAISSEUR |
| ISO/TC 201/SC 6 | SPECTROMéTRIE DE MASSE |
| ISO/TC 201/SC 7 | SPECTROSCOPIES D'éLECTRONS |
| ISO/TC 201/SC 7/WG 2 | QUANTIFICATION ET INTERPRéTATION DES DONNéES EN SPECTROSCOPIE DES éLECTRONS |
| ISO/TC 202 | ANALYSE PAR MICROFAISCEAUX |
| ISO/TC 202/SC 1 | TERMINOLOGIE |
| ISO/TC 202/SC 2 | MICROANALYSE PAR SONDE à éLECTRONS |
| ISO/TC 202/SC 3 | MICROSCOPIE ANALYTIQUE à éLECTRONS |
| ISO/TC 201/SC 8 | SPECTROSCOPIE à DéCHARGE LUMINEUSE |
| ISO/TC 202/SC 4 | MICROSCOPIE éLECTRONIQUE à BALAYAGE |
| ISO/TC 201/SC 9 | MICROSCOPIE PAR SONDE Ã BALAYAGE |
| ISO/TC 201/SC 6/WG 4 | SIMS NANO ET ORGANIQUE |
| ISO/TC 201/SC 9/WG 4 | ETALONNAGE DIMENSIONEL DES MICROSCOPES à BALAYAGE DE SONDE ORIENTé VERS LES APPLICATIONS |
| ISO/TC 201/SC 9/WG 5 | ETALONNAGE DES SONDES |
| ISO/TC 201/SC 9/CAG | GROUPE CONSULTATIF DU PRéSIDENT |
| ISO/TC 201/SC 9/WG 6 | UTILISATION D' ESPM |
| ISO/TC 201/SG 1 | CARACTéRISATION DES NANO-MATéRIAUX |
| ISO/TC 201/WG 4 | CARACTéRISATION DES SURFACES DES BIOMATéRIAUX |
| ISO/TC 201/WG 5 | ANALYSE DE L'INTERFACE OPTIQUE |
| ISO/TC 201/SC 4/SG 1 | PROFILAGE D'éPAISSEUR NON DESTRUCTIF EN UTILISANT LA DIFFUSION D'IONS |
| ISO/TC 201/SC 9/SG 2 | UTILISATION DES NSOM/SNOM |
| ISO/TC 201/SC 3/SG 1 | FORMAT DE DONNéES DE MICROSCOPIE à FORCE ATOMIQUE POUR LA MéTROLOGIE HYBRIDE |
| ISO/TC 201/SC 4/SG 2 | PARAMèTRES DE RéSOLUTION D'éPAISSEUR |
| ISO/TC 201/SC 9/SG 3 | MESURE DE LA RUGOSITé à LÂéCHELLE NANOMéTRIQUE |
| ISO/TC 201/SC 9/SG 4 | UTILISATION DE LA MICROSCOPIE Ã EFFET TUNNEL (STM) |
| ISO/TC 201/SC 10 | ANALYSE PAR RéFLECTOMéTRIE DE RAYONS X ET PAR FLUORESCENCE DE RAYONS X |
| ISO/TC 201/SC 9/WG 7 | PROPRIéTéS MéCANIQUES DES MATéRIAUX |
| ISO/TC 201/SC 10/WG 1 | TECHNIQUE PAR FLUORESCENCE X (XRF) |
| ISO/TC 201/SC 9/SG 5 | ETALONNAGE DIMENSIONNEL DE BASE POUR LES MICROSCOPES Ã BALAYAGE DE SONDE |
| ISO/TC 202/AG | ORIENTATIONS FUTURES DANS LÂANALYSE PAR MICROFAISCEAUX |
| ISO/TC 201/SC 4/SG 5 | MESURAGE DE L'éPAISSEUR DES FILMS D'OXYDE PAR éTALONNAGE MUTUEL |
| ISO/TC 201/SC 2/WG 4 | MANIPULATION DES éCHANTILLONS |
| ISO/TC 201/SC 3/SG 2 | DONNéES XPS DE SOURCE OUVERTE ET PLATEFORMES DE DISCUSSION |
| ISO/TC 201/SC 3/SG 4 | FORMAT DE TRANSFERT DE DONNéES ET D'INFORMATIONS |
| ISO/TC 201/SG 2 | ANALYSE DE LA SURFACE DES MATéRIAUX éNERGéTIQUES |
| ISO/TC 201/SC 6/SG 1 | TOMOGRAPHIE PAR SONDE ATOMIQUE |
| ISO/TC 201/SC 7/SG 2 | NORMES POUR LA QUANTIFICATION EN NAP-XPS (SPECTROSCOPIE DE PHOTOéMISSION INDUITE PAR RAYONS X à DES PRESSIONS PROCHES DE L'AMBIANTE) |
| ISO/TC 201/SC 7/SG 3 | NORMES POUR HAXPES (SPECTROSCOPIE DE PHOTOéLECTRONS PAR RAYONS X à HAUTE éNERGIE) |
| ISO/TC 201/SC 6/SG 2 | IMAGERIE PAR SPECTROMéTRIE DE MASSE |
| ISO/TC 201/SC 3/SG 5 | INGéNIERIE DES CONNAISSANCES POUR L'ANALYSE CHIMIQUE DES SURFACES |
| ISO/TC 201/SC 9/WG 8 | EFFETS DE LA TEMPéRATURE SUR LES MESURES DIMENSIONNELLES DE LA MICROSCOPIE à FORCE ATOMIQUE |
| ISO/TC 202/WG 7 | ANALYSE PAR MICROFAISCEAUX - DIFFRACTION D'éLECTRONS RéTRODIFFUSéS - MESURAGE DE LA TAILLE MOYENNE DES GRAINS |
| ISO/TC 201/SC 8/WG 7 | ANALYSE DES REVêTEMENTS MéTALLIQUES à BASE D'éTAIN |
