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Les normes volontaires sont élaborées par des commissions de normalisation, gérées par AFNOR et les Bureaux de normalisation sectoriels, qui rassemblent des représentants de toutes les parties intéressées (producteurs, utilisateurs, pouvoirs publics, associations, centres techniques, …). Les normes françaises sont homologuées.
Titre Référence Filière Publication Avis Suivi
Normalisation thermique des boîtiers de semiconducteurs - Partie 3 : modèles de simulation de circuits thermiques de boîtiers de semiconducteurs discrets pour analyse transitoire NF EN IEC 63378-3 Internationale 02/07/2025
Dispositifs à semiconducteurs - Partie 16-9 : circuits intégrés hyperfréquences - Déphaseurs NF EN IEC 60747-16-9 Internationale 27/11/2024
Composants et systèmes électroniques - Guide d’achats hors circuits franchisés FD C96-042 Française 31/07/2024
Groupe obsolescence des équipements électroniques - Guide méthodologique de dimensionnement des stocks de fin de vie des composants et sous-ensembles électroniques FD C96-029-1 Française 24/07/2024
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 5 : essai continu de durée de vie sous température et humidité avec polarisation NF EN IEC 60749-5 Internationale 07/02/2024
Composants électroniques - Stockage longue durée des composants et sous ensembles électroniques - Guide de mise en œuvre FD C96-029 Française 19/07/2023
Dispositifs à semiconducteurs - Lignes directrices concernant les plans de qualification de la fiabilité - Partie 2 : concept de profil de mission NF EN IEC 63287-2 Internationale 28/06/2023
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques - Partie 8 : mesure des émissions rayonnées - Méthode de la ligne TEM à plaques (stripline) pour circuit intégré NF EN IEC 61967-8 Internationale 21/06/2023
Circuits intégrés - Évaluation de la CEM des émetteurs-récepteurs - Partie 6 : émetteurs-récepteurs PSI5 NF EN IEC 62228-6 Internationale 18/02/2023
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs à semiconducteurs pour système IDO - Partie 1 : méthode d’essai de détection de variation acoustique NF EN IEC 63364-1 Internationale 08/02/2023
Dispositifs à semiconducteurs - Partie 16-7 : circuits intégrés hyperfréquences - Atténuateurs NF EN IEC 60747-16-7 Internationale 01/02/2023
Dispositifs à semiconducteurs - Partie 16-8 : circuits intégrés hyperfréquences - Limiteurs NF EN IEC 60747-16-8 Internationale 01/02/2023
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 37 : méthode d'essai de chute au niveau de la carte avec utilisation d'un accéléromètre NF EN IEC 60749-37 Internationale 14/01/2023
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essai mécaniques et climatiques - Partie 28 : essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle de dispositif chargé (CDM) - niveau du dispositif NF EN IEC 60749-28 Internationale 20/08/2022
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 10 : chocs mécaniques - Dispositif et sous-ensemble NF EN IEC 60749-10 Internationale 20/08/2022
Normalisation mécanique des dispositifs à semi-conducteurs - Partie 1 : règles générales pour la préparation des dessins d'encombrement des dispositifs discrets NF EN IEC 60191-1 Internationale 08/07/2022
Circuits intégrés - Évaluation de la CEM des émetteurs-récepteurs - Partie 7 : émetteurs-récepteurs CXPI NF EN IEC 62228-7 Internationale 01/07/2022
Lignes directrices pour les méthodes d'essai de résistance dynamique à l'état passant des dispositifs de conversion de puissance fondés sur les HEMT en GaN NF EN IEC 63373 Internationale 04/06/2022
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 39 : mesure de la diffusivité d'humidité et de l'hydrosolubilité dans les matériaux organiques utilisés dans les composants à semiconducteurs NF EN IEC 60749-39 Internationale 16/03/2022
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs à semiconducteurs pour le transfert de puissance et la charge sans fil - Partie 1 : exigences et spécifications générales NF EN IEC 63244-1 Internationale 17/12/2021
Circuits intégrés - Évaluation de la CEM des émetteurs-récepteurs - Partie 5 : émetteurs-récepteurs Ethernet NF EN IEC 62228-5 Internationale 17/12/2021
Composants électroniques - Stockage de longue durée des dispositifs électroniques à semiconducteurs - Partie 9 : cas particuliers NF EN IEC 62435-9 Internationale 10/12/2021
Dispositifs à semiconducteurs - Lignes directrices génériques concernant la qualification des semiconducteurs - Partie 1 : lignes directrices concernant la qualification de la fiabilité des circuits intégrés NF EN IEC 63287-1 Internationale 27/11/2021
Dispositifs à semiconducteurs - Partie 5-5 : dispositifs optoélectroniques - Photocoupleurs NF EN IEC 60747-5-5 Internationale 15/10/2021
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques - Partie 4 : mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1 Oméga/150 Oméga NF EN IEC 61967-4 Internationale 18/09/2021
Composants électroniques - Stockage de longue durée des dispositifs électroniques à semiconducteurs - Partie 7 : dispositifs microélectromécaniques NF EN IEC 62435-7 Internationale 17/03/2021
Modèles de circuits intégrés pour la CEM - Partie 6 : modèles de circuits intégrés pour la simulation du comportement d'immunité aux impulsions - Modélisation de l'immunité aux impulsions conduite (ICIM-CPI) NF EN IEC 62433-6 Internationale 18/12/2020
Dispositifs à semiconducteurs - Partie 17 : coupleur magnétique et capacitif pour l’isolation principale et renforcée NF EN IEC 60747-17 Internationale 18/12/2020
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 30 : préconditionnement des composants pour montage en surface non hermétiques avant les essais de fiabilité NF EN IEC 60749-30 Internationale 11/12/2020
Dispositifs à semiconducteurs - Partie 16-4 : circuits intégrés hyperfréquences - Commutateurs NF EN 60747-16-4/A2 Internationale 28/11/2020
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