9 résultats pour : "NF EN 60749-6"

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Normes publiées

Norme publiée

Les normes volontaires sont élaborées par des commissions de normalisation, gérées par AFNOR et les Bureaux de normalisation sectoriels, qui rassemblent des représentants de toutes les parties intéressées (producteurs, utilisateurs, pouvoirs publics, associations, centres techniques, …). Les normes françaises sont homologuées.

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Titre Référence Filière Publication Avis Suivi
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 6 : stockage à haute température NF EN 60749-6 Française 05/03/2020 Répondre Non suivi
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 7 : mesure de la teneur en humidité interne et analyse des autres gaz résiduels NF EN 60749-7 Française 25/02/2012 Répondre Non suivi
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 27 : essai de la sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle de machine (MM) NF EN 60749-27 Française 22/12/2006 Répondre Non suivi
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 3 : examen visuel externe NF EN 60749-3 Française 05/02/2020 Répondre Non suivi
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 17 : irradiation aux - neutrons NF EN IEC 60749-17 Française 10/08/2019 Répondre Non suivi
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 26 : essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle du corps humain (HBM) NF EN IEC 60749-26 Française 07/06/2018 Répondre Non suivi
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d’essais mécaniques et climatiques - Partie 34-1 : essai de cycles en puissance pour modules de puissance à semiconducteurs NF EN IEC 60749-34-1 Française 02/10/2025 Répondre Non suivi
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d’essais mécaniques et climatiques - Partie 22-2 : Robustesse des contacts soudés - Méthodes d’essais de cisaillement des contacts soudés par fil NF EN IEC 60749-22-2 Française 11/03/2026 Répondre Non suivi
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d’essais mécaniques et climatiques - Partie 22-1 : Robustesse des contacts soudés - Méthodes d’essais d’arrachement par traction des contacts soudés par fil NF EN IEC 60749-22-1 Française 11/03/2026 Répondre Non suivi
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